您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng)
會(huì)員.png)
6激光光束分析儀是用于測(cè)量激光光束直徑、形
新聞排行榜
更多-
01
-
02
-
03
-
04
-
05
-
06
-
07
-
08
產(chǎn)品展示
更多-
-
NANYTE BEAM臺(tái)式無(wú)掩模光刻機(jī)/
-
激光光束分析儀是用于測(cè)量激光光束直徑、形
-
激光光束分析儀是用于測(cè)量激光光束直徑、形
-
激光光束分析儀是用于測(cè)量激光光束直徑、形
-
日本進(jìn)口大面積LED太陽(yáng)光模擬器，有效光
技術(shù)文章
-
雙燈太陽(yáng)光模擬器通常采用雙光源混合燈體設(shè)計(jì)，以氙燈或其他高亮度光源為基礎(chǔ)，通過(guò)濾光片、反射鏡等光學(xué)元件對(duì)光源進(jìn)行精細(xì)調(diào)控，從而模擬出與真實(shí)太陽(yáng)光高度相似的光譜特性。其工作原理基于太陽(yáng)輻射的特性，通過(guò)特...2025/4/25查看全文
-
原子層沉積系統(tǒng)（AtomicLayerDeposition，簡(jiǎn)稱ALD）是一種重要的薄膜制備技術(shù)，在微電子、納米科技、光伏產(chǎn)業(yè)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。為確保沉積系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行和沉積質(zhì)量的可靠性，定期的校準(zhǔn)...2025/3/26查看全文
-
LED太陽(yáng)光模擬器是能夠模擬太陽(yáng)光譜的光源，其光譜與太陽(yáng)光譜非常相似，可以用于太陽(yáng)能電池、太陽(yáng)能熱能、太陽(yáng)能光化學(xué)等領(lǐng)域的研究。在選購(gòu)LED太陽(yáng)光模擬器時(shí)，可參考以下幾點(diǎn)：1、要明確自己的實(shí)驗(yàn)或測(cè)試需...2025/3/26查看全文
-
影響壓電系數(shù)測(cè)試儀性能的因素主要包括測(cè)試過(guò)程中的操作因素以及測(cè)試儀自身的特性因素，具體分析如下：測(cè)試過(guò)程中的操作因素1.壓力施加：壓力是否全部加于試樣：確保測(cè)試時(shí)施加的壓力均勻且完整地作用于被測(cè)樣品上...2025/3/18查看全文
-
雙燈太陽(yáng)光模擬器采用雙光源設(shè)計(jì)，能夠模擬出接近真實(shí)太陽(yáng)光的光譜和強(qiáng)度，為科研、生產(chǎn)和測(cè)試等領(lǐng)域提供了有力的支持。在太陽(yáng)能和光伏領(lǐng)域的應(yīng)用十分重要。通過(guò)模擬太陽(yáng)光的光譜和光強(qiáng)，可以對(duì)太陽(yáng)能電池和光伏元件...2025/2/26查看全文
-
高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀的性能可能受到多種因素的影響，以下是一些主要因素：一、設(shè)備自身因素1.準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性：設(shè)備的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性是測(cè)試結(jié)果可靠性的基礎(chǔ)。如果測(cè)試儀的精度不足或穩(wěn)定性差，那么測(cè)試結(jié)果可能會(huì)...2025/2/24查看全文
-
太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀是一種用于測(cè)量太陽(yáng)能電池電流-電壓（I-V）特性的重要設(shè)備，其操作流程和注意事項(xiàng)對(duì)于確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性至關(guān)重要。以下將詳細(xì)介紹太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀的正確操作流程以及在使用過(guò)程...2025/2/12查看全文
-
選擇合適的OLED光電性能測(cè)量系統(tǒng)是確保您能準(zhǔn)確評(píng)估OLED器件性能的關(guān)鍵步驟。以下是一些選擇合適測(cè)量系統(tǒng)時(shí)需要考慮的因素：1.測(cè)量參數(shù)-亮度和光譜測(cè)量：確保系統(tǒng)能夠測(cè)量OLED器件的亮度（光強(qiáng)度）和...2025/1/16查看全文
-
OLED光譜分析系統(tǒng)在使用過(guò)程中可能會(huì)遇到一些問(wèn)題，以下是一些常見(jiàn)問(wèn)題的解決方法以及使用技巧：一、常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法1.光譜數(shù)據(jù)異常問(wèn)題描述：在OLED光譜分析過(guò)程中，收集到的光譜數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常波動(dòng)或偏...2025/1/10查看全文
-
薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)采用的是非接觸MOS激光技術(shù)，除了對(duì)薄膜的應(yīng)力、表面曲率和翹曲測(cè)量外，可實(shí)現(xiàn)二維應(yīng)力Mapping成像統(tǒng)計(jì)分析；也可以實(shí)現(xiàn)應(yīng)力、曲率隨溫度變化的關(guān)系的測(cè)試。薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)包括：...2024/12/31查看全文