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6激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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NANYTE BEAM臺式無掩模光刻機(jī)/
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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激光光束分析儀是用于測量激光光束直徑、形
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日本進(jìn)口大面積LED太陽光模擬器，有效光
技術(shù)文章
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主要內(nèi)容頂部發(fā)射可以提高發(fā)光顯示器的亮度、色彩純度和面板制造兼容性。然而，頂發(fā)射量子點(diǎn)發(fā)光二極管(QLEDs)存在穩(wěn)定性差、光輸出耦合低和不可忽略的角度依賴性等問題，因?yàn)閷τ诜羌t發(fā)射的QLEDs來說，...2024/7/25查看全文
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主要內(nèi)容試錯(cuò)法對于找到限制鈣鈦礦太陽能電池效率的因素具有實(shí)用性，但這種方法較為復(fù)雜。除此之外還有另一種選擇，即機(jī)器學(xué)習(xí)與漂移擴(kuò)散模擬相結(jié)合。在這篇文章中，研究團(tuán)隊(duì)開發(fā)了一種機(jī)器學(xué)習(xí)模型，提出機(jī)器學(xué)習(xí)(...2024/7/12查看全文
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電卡效應(yīng)測試儀是一款直接法測試材料電卡效應(yīng)的設(shè)備。在介電材料中，因外電場的作用而導(dǎo)致偶極子極化狀態(tài)發(fā)生改變，進(jìn)而產(chǎn)生自身溫度的變化。由于電卡效應(yīng)直接與極化強(qiáng)度的變化相關(guān)，因而強(qiáng)極性的鐵電材料能產(chǎn)生較大...2024/7/9查看全文
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高溫介電測試系統(tǒng)是一種能夠在高溫條件下對材料的介電性能進(jìn)行測試與分析的儀器。它結(jié)合了高溫恒溫器與介電橋等關(guān)鍵技術(shù)，通過測試電容與電感在不同溫度下的變化，來確定高溫下介電性質(zhì)的變化規(guī)律。該設(shè)備是科研實(shí)驗(yàn)...2024/6/18查看全文
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電卡效應(yīng)測試原理主要涉及在極性電介質(zhì)材料中，由于外電場改變引起的極化狀態(tài)改變而產(chǎn)生的絕熱溫變和等溫熵變。具體來說，當(dāng)對極性材料施加電場時(shí)，材料中的電偶極子從無序狀態(tài)變?yōu)橛行驙顟B(tài)，這導(dǎo)致材料的熵減小。在...2024/5/23查看全文
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壓電系數(shù)測試儀是為測量壓電材料的d33常數(shù)而設(shè)計(jì)的儀器，壓電效應(yīng)是指某些晶體或陶瓷在受到外力作用時(shí)，會產(chǎn)生電荷的現(xiàn)象。而d33壓電系數(shù)就是用來描述材料受到力作用時(shí)，產(chǎn)生電荷的程度的指標(biāo)。壓電系數(shù)測試儀...2024/5/14查看全文
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在硅片等基板上附膜時(shí)，由于基板和薄膜的物理定數(shù)有異，產(chǎn)生應(yīng)力，進(jìn)而引起基板變形。由涂抹均勻的薄膜引起的變形的表現(xiàn)為基板的翹曲，而薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng)可從這個(gè)翹曲(曲率半徑)的變化量測量其應(yīng)力。薄膜應(yīng)力測量...2024/4/25查看全文
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GPT-LBL策略通過受體的聚合調(diào)整來增強(qiáng)p-i-n結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了PCE為19.41%(認(rèn)證為19.0%)的高效GPT-LBL器件GPT-LBL策略增強(qiáng)了OSCs的運(yùn)行穩(wěn)定性主要內(nèi)容由于供體-受體結(jié)構(gòu)域的...2024/4/10查看全文
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隨著材料科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，薄膜材料因其特別的物理和化學(xué)性質(zhì)，在電子、光學(xué)、航空航天等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。薄膜應(yīng)力是評估薄膜質(zhì)量和性能的重要指標(biāo)之一，而原位薄膜應(yīng)力測試儀則是準(zhǔn)確測量薄膜應(yīng)力的關(guān)鍵工具...2024/3/20查看全文
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隨著科技的不斷發(fā)展，人們對于太陽光的利用越來越高效。聚光太陽光模擬器作為一種高科技設(shè)備，可以模擬太陽光的特性，以便于各種應(yīng)用。使用聚光太陽模擬器能避免室外測量的環(huán)境、氣候、時(shí)間等因素限制，而廣泛應(yīng)用于...2024/3/14查看全文