CBTZ-3100Z型自動(dòng)對位探針臺 參考價(jià)：面議
CBTZ-3100Z型自動(dòng)對位探針臺操作簡單，快捷，測試精度高，具有MAP顯示功能。它與測試儀連接后，能自動(dòng)完成對各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能測試 。
CGO-4高低溫真空探針臺測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CGO-4高低溫真空探針臺測試系統(tǒng)77K-675K（液氮）；超高溫度分辨率；低溫具有*穩(wěn)定性
CT-6非真空高低溫探針臺 參考價(jià)：面議
CT-6非真空高低溫探針臺大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜
CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺 參考價(jià)：面議
CINDBEST CJ-4高溫測試測量探針臺大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ；可滿足500度高溫測試 ；溫度穩(wěn)定性高 ；兼容IV/CV/RF測試
CW-4 IGBT高壓大電流測試探針臺 參考價(jià)：面議
CW-4 IGBT高壓大電流測試探針臺大可用于8英寸以內(nèi)樣品測試 ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CH-12綜合性分析探針臺測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CH-12綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大...
CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺測試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
CINDBEST CH-8|8~12“ 探針臺測試系統(tǒng)大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測...
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺 參考價(jià)：面議
CINDBEST CL-4 | 4~8 精密I-V測試探針臺CL系列探針臺可兼容高倍率金相顯微鏡，可微調(diào)移動(dòng) ；可升級做射頻，大電流方面的測試和激光修復(fù)應(yīng)用
CS-4小型探針臺 參考價(jià)：面議
CS-4小型探針臺CS系列探針臺大可用于6英寸以內(nèi)樣品測試 ；可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等。
C-2迷你小型探針臺 參考價(jià)：面議
C-2簡易探針臺C-2系列探針臺可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；外形輕盈，操作方便，價(jià)格實(shí)惠；(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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