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MWR-2S-3I 無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 北京合能陽(yáng)光新能源技術(shù)有限公司
- 品牌
- 型號(hào) MWR-2S-3I
- 產(chǎn)地 北京市通州區(qū)工業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)光華路16號(hào)
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2015/9/16 20:13:30
- 訪問(wèn)次數(shù) 351
產(chǎn)品標(biāo)簽
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產(chǎn)品介紹:
MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試。一方面，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過(guò)近紅外對(duì)硅材料的光學(xué)特性，探測(cè)缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。此設(shè)備是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)*的測(cè)量?jī)x器。
MWR-2S-3I是一款功能異常強(qiáng)大的無(wú)接觸少子壽命及紅外探傷綜合測(cè)試儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無(wú)接觸、無(wú)損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試。一方面，其通過(guò)微波光電衰退特性原理來(lái)測(cè)量非平衡載流子壽命的；另一方面，通過(guò)近紅外對(duì)硅材料的光學(xué)特性，探測(cè)缺陷。并且單晶硅棒、多晶硅塊無(wú)須進(jìn)行特殊處理。此設(shè)備是太陽(yáng)能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)*的測(cè)量?jī)x器。
產(chǎn)品特點(diǎn)
■系統(tǒng)功能強(qiáng)大，少子壽命及缺陷同時(shí)測(cè)量
■無(wú)接觸和無(wú)損傷測(cè)量
■自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
■快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min
■ 測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等
■應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過(guò)程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等
■ 性價(jià)比高，*程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本
■可以在線實(shí)時(shí)對(duì)產(chǎn)品監(jiān)控
*工作條件
■溫度：18-26℃
■濕度：10%~80%
■大氣壓：750±30毫米汞柱
■濕度：10%~80%
■大氣壓：750±30毫米汞柱
技術(shù)指標(biāo)
■主機(jī)尺寸：63cm * 36cm *59cm
■測(cè)試尺寸:190mm*190mm*500mm
■測(cè)試掃描速度:2000mm/min
■ 電阻率范圍：>0.5Ω.cm
■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm
■儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％
■少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-30ms
■ 少子檢測(cè)激光波長(zhǎng)：975nm,測(cè)試功率范圍：50-500mw
■紅外波長(zhǎng)：2300nm,測(cè)試功率范圍：50mw
■紅外探傷可分辨zui小尺寸：0.1mm
■微波工作頻率：10GHz±0.5
■微波測(cè)試單元功率：0.01W±10%
■電源：～220V 50Hz 功耗＜160W
■主機(jī)重量：32KG
典型客戶
德國(guó)，瑞士，美國(guó)，日本，俄羅斯及國(guó)內(nèi)河北，江西，江蘇，浙江，廣西，上海，遼寧等地拉晶鑄錠客戶。
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