TT260涂層測厚使用參數(shù)比較

為使測量準確，應在測量場所對儀器進行校準。
3.1 校準標準片（包括箔和基體）
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準標準片。簡稱標準片。
a） 校準箔
對于磁性方法，“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片。對于渦流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校準，而且比用有覆蓋層的標準片更合適。
b） 有覆蓋層的標準片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標準片。對于磁性方法，覆蓋層是非磁性的。對于渦流方法，覆蓋層是非導電的。
 對于磁性方法，標準片基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與待測試件基體金屬的電性質(zhì)相似。為了證實標準片的適用性，可用標準片的基體金屬與待測試件基體金屬上所測得的讀數(shù)進行比較。
b） 如果待測試件的金屬基體厚度沒有超過表一中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進行校準：
1） 在與待測試件的金屬基體厚度相同的金屬標準片上校準；
2） 用一足夠厚度的，電學性質(zhì)相似的金屬襯墊金屬標準片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無間隙。對兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
c） 如果待測覆蓋層的曲率已達到不能在平面上校準，則有覆蓋層的標準片的曲率或置于校準箔下的基體金屬的曲率，應與試樣的曲率相同。
涂層測厚儀TT260
涂層測厚儀TT260有三種測量中使用校準方法: 零點校準、二點校準、在噴沙表面上校準。二點校準法又分一試片法和二試片法。還有一種針對測頭的基本校準。本儀器的校準方法是非常簡單的。
涂層測厚儀TT260

適用于除 CN02 外的所有的測頭。
a） 在基體上進行一次測量，屏幕顯示＜×.×μm＞。
b） 按ZERO 鍵，屏顯<0.0>。校準已完成，可以開始測量了。
c） 重復上述a、b 步驟可獲得更為的零點，高測量精度。零點校準完成后就可進行測量了。

涂層測厚儀TT260
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
涂層測厚儀TT260
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
涂層測厚儀TT260
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
涂層測厚儀TT260
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
涂層測厚儀TT260
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
涂層測厚儀TT260
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
涂層測厚儀TT260
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
涂層測厚儀TT260
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
涂層測厚儀TT260
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
涂層測厚儀TT260

測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
涂層測厚儀TT260
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3）中的某種方法進行校準。
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量。
不應在試件的彎曲表面上測量。
測量前，應清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。