渦流陣列對(duì)比渦流檢測(cè)方法優(yōu)勢(shì)有哪些

渦流陣列（ECA）是一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，具有以電子方式驅(qū)動(dòng)并排放置在同一個(gè)探頭組件中的多個(gè)渦流線圈的能力。探頭中每個(gè)單獨(dú)的渦流線圈都會(huì)產(chǎn)生一個(gè)相對(duì)于其下方結(jié)構(gòu)的相位和波幅的信號(hào)。這種數(shù)據(jù)與編碼位置和時(shí)間關(guān)聯(lián)，并以C掃描圖像形式表示。大多數(shù)傳統(tǒng)的渦流探傷技術(shù)都可以通過(guò)使用渦流陣列（ECA）檢測(cè)重現(xiàn)，不過(guò)，ECA技術(shù)具有顯著優(yōu)勢(shì)，可提高檢測(cè)能力，并大幅節(jié)省時(shí)間。

ECA技術(shù)包括以下優(yōu)勢(shì)特性：

在保持高分辨率的同時(shí)，單次探頭掃查可以覆蓋更大的區(qū)域。

不太需要復(fù)雜的機(jī)器人技術(shù)來(lái)移動(dòng)探頭，只需簡(jiǎn)單的手動(dòng)掃查就足以完成檢測(cè)。

C掃描成像提高了缺陷探測(cè)和定量性能。

可以使用根據(jù)被檢測(cè)工件的輪廓定制的探頭對(duì)具有復(fù)雜形狀的工件進(jìn)行檢測(cè)。

渦流檢測(cè)的好處

在涉及健康和安全的行業(yè)中，使用可探測(cè)材料缺陷的技術(shù)至關(guān)重要。在本小節(jié)中，我們將講述渦流檢測(cè)的好處：

對(duì)表面缺陷的靈敏度：最小的缺陷可能減弱碳或鋼等材料，從而違反某些安全標(biāo)準(zhǔn)。在有利條件下，渦流檢測(cè)設(shè)備可準(zhǔn)確探測(cè)長(zhǎng)度為0.5 mm (0.02 in.)的缺陷。

透過(guò)不同的層進(jìn)行探測(cè)：如果您正在使用具有多層結(jié)構(gòu)的原料，渦流設(shè)備可以探測(cè)多達(dá)14層深度的缺陷而不會(huì)受到平界面的干擾。

快速而又簡(jiǎn)單：渦流是一種快速、簡(jiǎn)單且可靠的檢測(cè)技術(shù)，是您在進(jìn)行定期檢測(cè)并看重速度時(shí)的理想選擇。

測(cè)量原料電導(dǎo)率：渦流檢測(cè)可用于測(cè)量原料傳輸熱或電的能力。這可能是為特定應(yīng)用選擇原料的關(guān)鍵因素。

絕緣涂層的測(cè)量：涂層測(cè)量需要準(zhǔn)準(zhǔn)確 度。準(zhǔn)確的測(cè)量至關(guān)重要，因?yàn)橥繉硬牧系膿p失可能往往會(huì)違反汽車和航空航天等行業(yè)的安全標(biāo)準(zhǔn)。渦流檢測(cè)因其普適性而成為一種測(cè)量絕緣涂層的實(shí)用方法—除了大多數(shù)絕緣涂層外，它還可以檢測(cè)陽(yáng)極涂層。

使用高速旋轉(zhuǎn)掃查器和表面探頭進(jìn)行快速孔檢測(cè)：有效的渦流孔檢測(cè)需要旋轉(zhuǎn)掃查器、旋轉(zhuǎn)探頭以及記錄和顯示結(jié)果數(shù)據(jù)的儀器。渦流設(shè)備因其速度和效率而成為進(jìn)行NDT螺栓孔檢測(cè)廣受歡迎的選擇。

便攜性：渦流檢測(cè)設(shè)備小巧輕便，工作時(shí)攜帶方便。

設(shè)備可以自動(dòng)化：使用自動(dòng)化或半自動(dòng)化設(shè)備可以快速準(zhǔn)確地檢測(cè)相對(duì)均勻的工件。

非接觸式檢測(cè)：渦流檢測(cè)設(shè)備無(wú)需與被測(cè)工件接觸即可進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量。

渦流檢測(cè)的局限性

我們已經(jīng)講述了渦流檢測(cè)的優(yōu)勢(shì)，但了解其劣勢(shì)以確認(rèn)它是否符合您的行業(yè)要求也很重要。以下是渦流檢測(cè)的局限性：

容易出現(xiàn)導(dǎo)磁率變化：導(dǎo)磁率的微小變化都可能使焊縫以及其他鐵磁性材料的檢測(cè)變得困難。

只對(duì)導(dǎo)電材料有效：渦流只能用于測(cè)量支持電流流動(dòng)的原料。

無(wú)法探測(cè)平行于表面的缺陷：渦流的流動(dòng)平行于表面。這意味著渦流檢測(cè)設(shè)備無(wú)法探測(cè)不與電流交叉或干擾電流的缺陷。

需要解讀信號(hào)：有許多因素可能影響渦流檢測(cè)。這就需要仔細(xì)解讀信號(hào)以區(qū)分相關(guān)和不相關(guān)的缺陷指示。

不適用于大塊區(qū)域：大塊區(qū)域的渦流檢測(cè)需要借助掃查設(shè)備。復(fù)雜的形狀也會(huì)增加區(qū)分缺陷信號(hào)和幾何形狀影響信號(hào)的難度。

渦流陣列檢測(cè)的好處

渦流陣列(ECA)是一種無(wú)損渦流檢測(cè)形式，它需要在檢測(cè)探頭中將以電子方式驅(qū)動(dòng)的渦流線圈彼此相鄰對(duì)齊。每個(gè)線圈產(chǎn)生一個(gè)信號(hào)，信號(hào)的強(qiáng)度取決于檢測(cè)原料的相位和波幅?？梢詼y(cè)量該信號(hào)，并記錄數(shù)據(jù)以進(jìn)行檢測(cè)。

渦流陣列與其他渦流檢測(cè)方法相比有幾個(gè)優(yōu)勢(shì)：

更快的檢測(cè)時(shí)間：用戶可以使用多線圈探頭一次完成原料掃查。這意味著掃查只需幾分鐘，比傳統(tǒng)的ECT和某些其他NDT方法（如磁粉檢測(cè)[MPT]）更快。

一次覆蓋更大的區(qū)域：使用多個(gè)線圈使用戶能夠一次完成檢測(cè)。單線圈探頭需要技術(shù)人員多次掃查原料。

簡(jiǎn)化檢測(cè)：使用渦流陣列可降低移動(dòng)探頭所需的機(jī)械和機(jī)器人掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。

檢測(cè)復(fù)雜形狀：渦流陣列探頭可以根據(jù)被測(cè)工件的輪廓進(jìn)行定制。這減少了由復(fù)雜檢測(cè)原料引起的檢測(cè)局限性。

實(shí)時(shí)繪圖：渦流陣列技術(shù)提供被檢測(cè)區(qū)域的實(shí)時(shí)繪圖，便于數(shù)據(jù)解讀。

準(zhǔn)確度更高：使用渦流陣列探頭可以提高可靠性和檢出率(POD)。

渦流陣列檢測(cè)用于一系列不同的行業(yè)。它可用于測(cè)量鋼的厚度以及探測(cè)腐蝕。渦流陣列的好處意味著多線圈探頭可用于各種各樣的原料，如容器、柱、儲(chǔ)罐和球體、管道系統(tǒng)以及結(jié)構(gòu)應(yīng)用。