二合一顯微鏡,一鍵精準(zhǔn)定位,可視化磁性表征,為高性能復(fù)合材料研發(fā)破局
導(dǎo)語:
在航空航天、機械加工等高科技工業(yè)領(lǐng)域,高性能復(fù)合材料如WC-Co的需求日益增長。然而,傳統(tǒng)表征技術(shù)難以揭示其微觀結(jié)構(gòu)與性能的復(fù)雜關(guān)系。近日,Graz電子顯微鏡中心功能納米制造部門負(fù)責(zé)人Harald Plank教授發(fā)表文章,詳細(xì)介紹了關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)(Correlative Microscopy)在WC-Co復(fù)合材料研發(fā)中的突破性應(yīng)用,F(xiàn)usionScope®作為其中的核心設(shè)備,為材料科學(xué)帶來了全新的解決方案。
圖1. AFM/SEM二合一顯微鏡
高性能復(fù)合材料的挑戰(zhàn)與機遇
WC-Co復(fù)合材料以其優(yōu)異的硬度和韌性著稱,但其性能高度依賴于WC晶粒與Co粘結(jié)相的微觀結(jié)構(gòu)平衡。傳統(tǒng)工藝中,高溫?zé)Y(jié)易導(dǎo)致晶粒粗化和元素擴(kuò)散,進(jìn)而影響材料性能。當(dāng)前面臨的主要挑戰(zhàn)包括:
粘結(jié)相優(yōu)化:Co相的分布與成分直接影響材料的韌性與硬度平衡。
磁性性能調(diào)控:W和C擴(kuò)散導(dǎo)致的Co相成分變化可能引發(fā)局部磁性差異,進(jìn)而影響材料性能。
化學(xué)蝕刻控制:表面Co相的精確蝕刻是后續(xù)涂層工藝的關(guān)鍵步驟,需確保一致性。
關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)的革命性突破
為應(yīng)對這些挑戰(zhàn),Plank教授團(tuán)隊采用將掃描電子顯微鏡(SEM)、原子力顯微鏡(AFM)和磁力顯微鏡(MFM)技術(shù)集于一體的FusionScope®平臺,實現(xiàn)了從宏觀到納米尺度的多模態(tài)表征。其工作流程包括:
SEM精準(zhǔn)導(dǎo)航:利用 FusionScope® 中 SEM 的高分辨率成像能力,能夠精確定位復(fù)合材料中的感興趣區(qū)域,為后續(xù)的深入分析提供準(zhǔn)確的目標(biāo)。
AFM/MFM分析:借助 AFM 的高分辨率表面形貌成像和 MFM 對磁性的靈敏探測,深入揭示了Co相的納米級分布及磁性變化。
EBSD與TEM驗證:結(jié)合電子背散射衍射(EBSD)和透射電鏡(TEM),對元素擴(kuò)散情況和缺陷結(jié)構(gòu)進(jìn)行進(jìn)一步驗證分析。
下圖2展示了MFM信號差異可指示Co相中W和C的擴(kuò)散程度,而EBSD和TEM數(shù)據(jù)則為工藝優(yōu)化提供直接依據(jù)。
圖2. 研發(fā)復(fù)合材料加工利用FusionScope作為核心元素的相關(guān)顯微鏡。(a)SEM確定感興趣的區(qū)域,隨后進(jìn)行AFM和MFM成像;(b)定位與Co相關(guān)的磁區(qū);(c)同一區(qū)域的EBSD提供了全面的晶體取向數(shù)據(jù),隔離了所需的Co相;(d)與MFM數(shù)據(jù)(e)的直接相關(guān)性突出了部分磁性Co相(黃色箭頭)和非磁性Co相(白色箭頭);感興趣的區(qū)域,如紅色圓圈多標(biāo)記的區(qū)域,精確地指導(dǎo)了基于TEM的元素映射和相關(guān)的高分辨率成像(f),揭示了封裝的最低磁性Co相的偏差,在這種情況下,F(xiàn)usionScope作為優(yōu)化,質(zhì)量控制和故障分析的核心工具是至關(guān)重要的。
FusionScope®:材料研發(fā)的“全能助手”
FusionScope®集成了復(fù)雜工作流程所需的功能,簡化了導(dǎo)航、分析和將納米級特性與互補技術(shù)相關(guān)聯(lián)的過程,通過高分辨率的SEM成像進(jìn)行精確導(dǎo)航,先進(jìn)的MFM進(jìn)行詳細(xì)的磁性測繪,確保了關(guān)鍵信息的一致和對齊,它的設(shè)計最大限度地降低了技術(shù)轉(zhuǎn)換期間不對齊活數(shù)據(jù)丟失風(fēng)險,這對準(zhǔn)確分析至關(guān)重要,主要優(yōu)勢包括:
多模態(tài)一體化精準(zhǔn)分析:FusionScope®將SEM、AFM、MFM等多種技術(shù)集成于同一平臺,避免了傳統(tǒng)多設(shè)備聯(lián)用過程中可能出現(xiàn)的數(shù)據(jù)錯位問題。
納米級精度保障數(shù)據(jù)可靠:憑借SEM引導(dǎo)的靶向分析與MFM的高精度磁性映射功能,有效確保了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
廣泛應(yīng)用場景:從工藝優(yōu)化、質(zhì)量控制到失效分析,覆蓋材料研發(fā)全周期。
圖3. 將FusionScope作為相關(guān)顯微鏡的核心工具,通過其特有的、完全集成的多模式功能,促進(jìn)了感興趣區(qū)域的識別和先進(jìn)的表面表征。其納米級的分辨率可在最初的步驟中精確對準(zhǔn)樣品,隨后實施材料分析。
正如 Harald Plank 教授所言:“FusionScope”不僅是工具,更是連接基礎(chǔ)研究與工業(yè)應(yīng)用的橋梁。它幫助我們揭示了WC-Co復(fù)合材料中以往無法觀測的微觀現(xiàn)象,為新材料設(shè)計提供了關(guān)鍵支持。”
未來展望
隨著材料科學(xué)不斷向納米尺度發(fā)展,關(guān)聯(lián)顯微技術(shù)的重要性日益凸顯。FusionScope®憑借其超卓的靈活性與多功能性,在鋼鐵處理、新能源材料等領(lǐng)域展現(xiàn)出了廣闊的應(yīng)用前景。未來,Quantum Design將進(jìn)一步探索其在3D納米探針制造等前沿領(lǐng)域的應(yīng)用潛力,推動產(chǎn)學(xué)研深度融合,為材料科學(xué)的發(fā)展注入新動力。
關(guān)于作者
Harald Plank教授任職于格拉茨工業(yè)大學(xué),是“Christian Doppler實驗室”主任,長期專注于功能納米制造技術(shù)研發(fā)及工業(yè)轉(zhuǎn)化。其團(tuán)隊?wèi){借先進(jìn)顯微技術(shù),為全球客戶提供復(fù)雜材料問題的解決方案。
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