硅光電式OLED器件高溫壽命測試

系統(tǒng)概述
高溫測試系統(tǒng)利用高溫加速OLED器件的老化，進(jìn)行設(shè)定好的高溫條件下的器件壽命測試。溫控系統(tǒng)分為chamber溫控、底板加熱溫控。

chamber加熱溫控范圍：±20℃ - 100 ℃

底板加熱溫控范圍： 室溫 - 100 ℃
溫度精度： ±1℃，溫度波動(dòng)±0.2℃

軟件功能
（1） 測量模式：恒壓、恒流、方波電流、方波電壓
（2） 測量數(shù)據(jù)：測量時(shí)間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預(yù)估壽命、亮度衰減比、溫度
（3） 測量圖表：衰減比實(shí)時(shí)電流/電壓/衰減曲線
（4） 測量時(shí)間：三個(gè)時(shí)間段設(shè)計(jì)，每個(gè)時(shí)間段可以分別設(shè)置測量時(shí)間間隔等參數(shù)
（5） 發(fā)光點(diǎn)測量的獨(dú)立性：每個(gè)發(fā)光點(diǎn)可以獨(dú)立設(shè)置電壓或電流等參數(shù)，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨(dú)立測量
（6） 光學(xué)壽命測量時(shí),每個(gè)發(fā)光點(diǎn)可以獨(dú)立開始和停止測量,每個(gè)發(fā)光點(diǎn)均可設(shè)置獨(dú)立的三段測試時(shí)間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或更換其中幾片產(chǎn)品
（7） 圖表實(shí)時(shí)查詢：支持圖表在測量過程中實(shí)時(shí)查詢，不必等待測量結(jié)束后再看數(shù)據(jù)和圖表
（8） 曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時(shí)長等數(shù)據(jù)，在圖表里顯示曲線。
（9） 測量前預(yù)處理功能：可以設(shè)定的需要預(yù)處理的溫度值、電流、電壓值和時(shí)間等參數(shù)，正常測量前先以預(yù)處理?xiàng)l件進(jìn)行老化，然后再進(jìn) 入正常壽命測試程序。
（10） 數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)，異?；謴?fù)后可找回?cái)?shù)據(jù)并繼續(xù)測試（中斷的時(shí)間不累積，能自動(dòng)減除）
（11） Datalog及Eventlog實(shí)時(shí)記錄