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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地鄭州市
更新時(shí)間:2025-02-24 14:52:06瀏覽次數(shù):83次
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合 |
適用范圍
本儀器采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)儀器。
滿足JB/T 8393-1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量
主要技術(shù)指標(biāo)
使用環(huán)境溫度:0~40℃
電源: 5V電池
外型尺寸:150×80×30mm
重量:300g
測(cè)量范圍:F1、N1、F1/90 0-------1250um
F400、N400 0---400um
F3000/N3000 0-3000um
F3 高溫 0-3000um 300℃以下
F10- 0------10000
測(cè)量誤差:F1、N1(0-1250um)、F1/90---- (2%H+1);二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1%
F400、N400--- (2%H+0.7)二點(diǎn)校準(zhǔn)精度1% F10(0-10000um)----- (2%H+10) 二點(diǎn)石 校準(zhǔn)精度1%
主要功能:
1.可使用各種測(cè)頭(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)進(jìn)行測(cè)量;
2.三種校準(zhǔn)方法: 一點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)、基本校準(zhǔn);
3.顯示分辨率: 0.1μm (1250um以下,1250um以上是1um)
4.最小測(cè)量面積: 最小測(cè)量面積:10*8mm
5.最小曲率:凸5mm;凹25mm
6.設(shè)有四個(gè)統(tǒng)計(jì)功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、測(cè)量次數(shù)(No)
7.設(shè)五個(gè)統(tǒng)計(jì)量,存儲(chǔ)800個(gè)數(shù)據(jù)。
標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
探頭(F1或N1) 1支
基體 1塊
標(biāo)準(zhǔn)片 5片
5V堿性電池 2節(jié)
使用說(shuō)明書(shū) 1本
可選件
其他型號(hào)探頭
打印機(jī) 1臺(tái)
通訊電纜 1條
軟件光碟 1張
LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | ||||
測(cè)量原理 | 磁性 | 渦流 | ||||||||
測(cè)量范圍(μm) | 0~400 | 0~1250 | 0~10mm | 0~400 | 0~12500 | |||||
測(cè)量精度μm | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±(1~3%H+0.7) | ±(3%H+1) | ±(3%H+10) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1.5) | ||||
二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±(1~3%H+0.7) | ±(1~3%H+1) | ±(1~3%H+10) | ±(1~3%H+1) | ±(1~3%H+1.5) | |||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | |||||
最小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | ||||
最小面積直徑(mm) | ¢3 | ¢7 | ¢40 | ¢4 | ¢5 | |||||
基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 |
測(cè)頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) | |||
覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積直徑大于30mm | F400型測(cè)頭0~400μm | F1型測(cè)頭 | F400型測(cè)頭0~400μm | F1型測(cè)頭 |
被測(cè)面積直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0~400μm | F400型測(cè)頭0~400μm | F400型測(cè)頭0~400μm | F400型測(cè)頭0~400μm | |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積直徑大于10mm | N1型測(cè)頭0~1250μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm | ||
被測(cè)面積直徑大于10mm | N400測(cè)頭0~400μm | N400測(cè)頭0~40μm | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積直徑大于7mm | - | - | CN02型測(cè)頭10~200μm |
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