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HORIBA X射線熒光光譜儀

XGT-1000WR熒光光譜儀主要技術(shù)指標(biāo)：

              1、 分析元素：Si～U（Cd/Pb高精度型）；Na～U（任選：φ1.2 mm/φ0.1 mm切換方式型）

              2、 檢測(cè)精度：Cd/Pb/Hg/Br≤2 ppm, Cr≤5 ppm

              3、 檢測(cè)倉(cāng)內(nèi)部尺寸：不超過(guò)460×360 mm（高150 mm）

              4、X射線照射徑：φ1.2 mm（可選：φ1.2 mm/φ0.1 mm 切換）

              5、 檢測(cè)器：高純硅檢測(cè)器 XEROPHY

              6、 設(shè)備重量：約 265 kg（不含桌子、計(jì)算機(jī)）

              7、 外形尺寸：分析部分：610（W）×750（D）×500（H）mm 

       8、 信號(hào)處理部：220（W）×500（D）×480（H）mm 

       9、可同時(shí)測(cè)量4層金屬鍍層的厚度。

                    HORIBA在能量色散XRF方面的XGT（X射線導(dǎo)向管聚焦）技術(shù)實(shí)現(xiàn)了微小面積、高X射線能量聚焦測(cè)量，確保了微區(qū)測(cè)量、快速測(cè)量、高精度測(cè)量。HORIBA XGT1000WR便是一款經(jīng)典機(jī)型。