日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200詳細(xì)說(shuō)明：

日本電子JEOL場(chǎng)發(fā)射透射電鏡F200JEM-F200的外觀和操作模式基于“智能化”的理念進(jìn)行了全新的設(shè)計(jì)。全新的人機(jī)界面使得用戶可以專注于電鏡觀察和分析工作。得益于日本電子在電子光學(xué)領(lǐng)域多年的積累，新設(shè)備采用了球差電鏡的高穩(wěn)定度的設(shè)計(jì)理念，該設(shè)備的機(jī)械穩(wěn)定度和電氣穩(wěn)定度得以大大改善，從而可以保證更加出色的性能。

JEM-F200 配置肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍，或者冷場(chǎng)發(fā)射電子槍*，高亮度和高穩(wěn)定性的場(chǎng)發(fā)射電子槍可以極大提高觀察和分析效率。

對(duì)于冷場(chǎng)電子槍，可以獲得更高亮度和更小能量發(fā)散度的電子源，亮度高于8x108A/cm2·sr，能量發(fā)散度可以低至0.3eV，在圖像質(zhì)量和分析效果上更勝yichou，更適合行高能量分辨率的EELS分析，可以對(duì)樣品進(jìn)行精細(xì)的化學(xué)結(jié)合態(tài)分析。

JEM-F200上引入了全新的四級(jí)聚光鏡設(shè)計(jì)，可以滿足日益增加的各種應(yīng)用。在這個(gè)全新系統(tǒng)的支持下，前兩級(jí)聚光鏡可以控制束斑尺寸和束流強(qiáng)度，其形成的電子?xùn)|交叉點(diǎn)可以固定在特定的位置，然后通過(guò)后兩級(jí)聚光鏡實(shí)現(xiàn)照明區(qū)域和匯聚角度的控制。除此外，在TEM模式成像中非常重要的平行光照明模式可以像傳統(tǒng)電鏡一樣輕松實(shí)現(xiàn)。該系統(tǒng)的使用可以輕松得到高質(zhì)量的明場(chǎng)和暗場(chǎng)圖像。