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X200M擁有穩(wěn)定可靠的測試平臺，保證測試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學系統(tǒng)結合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。直流應用中，X200M高品質(zhì)的電纜和三軸信號通路，可使DUT特性分析達到fA水平；射頻應用中，通過縮短擴頻模塊與探針之間連接器的距離，可高效且更好地實現(xiàn)THz內(nèi)器件高品質(zhì)參數(shù)的提取。優(yōu)異的三軸低漏電載物臺選件，提高器件測試的信心。載物臺的單手快速移動及升降、一體化真空開關等優(yōu)化設計使操作流程更加簡潔與人性化，無論是初學者還是經(jīng)驗者，使用起來都非常方便、易懂。

專門為升級和擴展所設計的各種選項， 可輕松實現(xiàn)如負載牽引系統(tǒng)、太赫茲系統(tǒng)、 輻照系統(tǒng)、1/f噪聲等系統(tǒng)的搭載，X200M 系統(tǒng)也可根據(jù)您的未來項目需求重新配置。