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深圳市矢量科學(xué)儀器有限公司

  • 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀

    霍爾效應(yīng)測(cè)試儀 簡(jiǎn)介：1.系統(tǒng)功能：用于測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率/電導(dǎo)率、流動(dòng)性、散裝/片狀載體濃度、摻雜類型、霍爾系數(shù)、磁阻、垂直/水平阻力比的半導(dǎo)體高性能霍爾...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:31:10 對(duì)比

  • 探針臺(tái)

    探針臺(tái) 簡(jiǎn)介：一、應(yīng)用:主要應(yīng)用于晶圓、芯片、器件、封裝等半導(dǎo)體制程測(cè)試環(huán)節(jié)。二、類型：分析直流、射頻、高壓、毫米波、太赫茲、硅光測(cè)量、芯片級(jí)測(cè)量、定制化等三、...
    型號(hào)： 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:29:13 對(duì)比

  • X-Ray

    它是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。而對(duì)于樣品無法以外觀方式觀測(cè)的位置，利用其穿透不...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:27:35 對(duì)比

  • CT系統(tǒng)

    Comet Yxlon FF35 CT X射線系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的多功能高分辨率CT系統(tǒng) ，用于研發(fā)和質(zhì)量保證領(lǐng)域。FF35 CT 符合 SEMI® 的嚴(yán)...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:25:22 對(duì)比

  • X射線衍射儀XRD

    X射線衍射儀XRD 產(chǎn)品概述：智能X射線衍射儀SmartLab系列，可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域?？梢苑治龅牟牧习ǎ航饘俨牧稀o機(jī)材料、復(fù)合材料、...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:23:35 對(duì)比

  • 探針式輪廓儀/臺(tái)階儀

    探針式輪廓儀/臺(tái)階儀技術(shù)優(yōu)勢(shì)：1. 每次掃描數(shù)據(jù)點(diǎn)：最多可達(dá)120.000數(shù)據(jù)點(diǎn)2. 最大樣品厚度：50mm(2英寸)3. 最大晶圓尺寸：200mm(8英寸)4...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:21:43 對(duì)比

  • 光學(xué)輪廓儀

    光學(xué)輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:19:28 對(duì)比

  • 透射電鏡TEM

    透射電鏡TEM 介紹：1. 配備了高靈敏度sCMOS相機(jī)、超廣視野的蒙太奇系統(tǒng)以及光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能，是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射電子顯...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:17:30 對(duì)比

  • 聚焦離子束系統(tǒng)FIB

    聚焦離子束系統(tǒng)FIB是將離子源產(chǎn)生的離子束經(jīng)過離子槍加速，聚焦后作用于樣品表面，應(yīng)用于：產(chǎn)生二次電子信號(hào)取得電子像，此功能與SEM相似，用強(qiáng)電流離子束對(duì)表面原子...
    型號(hào)： customize... 所在地：深圳市 參考價(jià)： 面議 更新時(shí)間：2025/6/5 8:15:09 對(duì)比

  • 掃描電鏡SEM

    掃描電鏡SEM簡(jiǎn)介：FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單，并且它可以觀察、測(cè)量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子...
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