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TS400-R-Y 溫控探針系列

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更新時(shí)間:2023-05-09 09:14:27瀏覽次數(shù):8987

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應(yīng)用領(lǐng)域 化工,地礦,電子/電池,航空航天,電氣 溫度范圍 -196~400℃
溫度分辨率 0.1℃ 控溫精度 0.5℃
升溫速率 (1-30)K/min 程序控制 降溫速率 (1-20)K/min 程序控制
簡(jiǎn)要描述:
TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對(duì)材料電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的一款產(chǎn)品,溫度范圍為-196~400℃,全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內(nèi),采用四探針?lè)杀碚鞑牧仙郎睾徒禍仉A段電阻率隨溫度變化的特征。

詳細(xì)介紹

    冷熱臺(tái)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、高分子聚合物、液態(tài)晶體、冶金等各種研究領(lǐng)域。冷熱臺(tái)可以跟光學(xué)顯微鏡、共聚焦顯微鏡、激光拉曼、傅里葉紅外光譜儀、X射線衍射儀等設(shè)備聯(lián)用,用于材料在變溫條件下的研究和表征。

    TS400-R-Y 溫控探針系列專門針對(duì)材料電學(xué)測(cè)試而設(shè)計(jì)的一款產(chǎn)品,溫度范圍為-196~400℃,全程溫度穩(wěn)定性控制0.5℃以內(nèi),采用四探針?lè)杀碚鞑牧仙郎睾徒禍仉A段電阻率隨溫度變化的特征。

TS400-R-Y 溫控探針系列特點(diǎn)

1、可表征材料在升溫和降溫時(shí)段電阻率隨溫度變化

2、四線法測(cè)量材料電阻率,可消除接觸電阻影響

3、測(cè)量薄膜和塊體材料,適用于多種應(yīng)用場(chǎng)景 升降溫速率快,可大幅縮短測(cè)試時(shí)間 緊湊結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),占地空間小

參數(shù)規(guī)格

項(xiàng)目

技術(shù)參數(shù)

溫控參數(shù)

溫度范圍

-196~400℃


溫度分辨率

0.1℃


控溫精度

0.5℃


加熱方式

加熱棒加熱


升溫速率

1-30)K/min 程序控制


降溫速率

1-20)K/min 程序控制

電學(xué)參數(shù)

測(cè)試物理量

變溫過(guò)程中電阻率連續(xù)采集


電阻率測(cè)試誤差

≤10%


重復(fù)測(cè)試誤差

≤3%


電阻測(cè)量范圍

1×10-6Ω~ 1×108Ω

其它參數(shù)

真空度

≤1Pa


主機(jī)尺寸

140m*100mm*60mm


整機(jī)功率

250W


主機(jī)凈重

0.8Kg


溫控器尺寸

480mm(W)× 360mm(D)× 160mm(H)

測(cè)試圖譜

采用四探針?lè)y(cè)量電阻率

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