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安徽奧科試驗設備有限公司
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高低溫試驗箱在元器件中的應用

時間:2024/2/23閱讀:624
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元器件是整機的基礎,它在制造過程中可能會由于本身固有的缺陷或制造工藝的控制不當,在使用中形成與時間或應力有關的失效。


作用一:高溫貯存


電子元器件的失效大多數(shù)是由于體內(nèi)和表面的各種物理化學變化所引起,它們與溫度有密切的關系。

在高溫貯存操作溫度升高以后,電子元件的化學反應速度大大加快,失效過程也得到加速,使得有缺陷的元器件能及時暴露,予以剔除。

高溫篩選在半導體器件上被廣泛采用,它能有效地剔除具有表面沽污、鍵合不良、氧化層有缺陷等失效機理的器件。

通過高溫貯存以后還可以使元器件的參數(shù)性能穩(wěn)定下來,減少使用中的參數(shù)漂移。


作用二:功率電老煉

熱電應力的共同作用能很好地暴露元器件體內(nèi)和表面的多種潛在缺陷,它是可靠性篩選的重要項目。

各種電子元器件通常在額定功率條件下老煉,有些產(chǎn)品不能隨便改變條件但可以采用高溫工作方式來提高工作結(jié)溫,達到高應力狀態(tài)。


作用三:溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過程中會遇到不同的環(huán)境溫度條件,在熱脹冷縮的應力作用下,熱匹配性能差的元器件就容易失效。

高低溫試驗箱所執(zhí)行的溫度循環(huán)篩選利用了ji端高溫和ji端低溫間的熱脹冷縮應力,能有效的剔除有熱性能缺陷的產(chǎn)品。





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