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首頁>>光焱科技股份有限公司>>產(chǎn)品展示>>EQE/光子-電子轉(zhuǎn)換測試>>損耗缺陷分析

  • 損耗分析-準(zhǔn)費米能級檢測儀 參考價:面議

    Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準(zhǔn)費米能級檢測儀,可視覺化呈現(xiàn)QFLS image,一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、P...
    型號: QFLS-Mape... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    QFLS損耗缺陷分析評估材料效率極限Pseudo J-ViVOC
    2025/5/5 14:14:37982
  • 光電器件響應(yīng)測量與光偵測器 參考價:面議

    PD-RS光電器件響應(yīng)測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換過程的響應(yīng)行為測量與分析。
    型號: PD-RS 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    光電器件光偵測器頻率響應(yīng)測量TPC/TPV光電流時間響應(yīng)測試
    2025/3/20 17:10:083844
  • 太陽能電池Voc損耗分析儀 參考價:面議

    光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統(tǒng),可以幫助科學(xué)家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss,并為下一步的工藝改進(jìn)提供思路...
    型號: REPS Ultr... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    Voc-lossREPS太陽能電池Voc損耗分析太陽能電池Voc損耗
    2025/3/14 12:23:068637
  • 雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價:面議

    激光掃描缺陷成像儀是激光束感應(yīng)電流(LBIC)測試的升級版本。它利用波長能量大于半導(dǎo)體帶隙的激光束照射半導(dǎo)體,產(chǎn)生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面,獲得揭示內(nèi)部...
    型號: LSD4 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    太陽能電池EQE光譜響應(yīng)缺陷檢測
    2025/3/14 11:49:442549
  • 光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng) 參考價:面議

    在半導(dǎo)體器件中,不完好的結(jié)晶度往往會導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài),這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低,產(chǎn)生的光電流信號也極弱。因此,...
    型號: FTPS 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    Voc-loss損耗分析太陽能電池quantum efficiency外部量子效率
    2025/3/13 18:00:219889
  • 鈣鈦礦太陽能電池瞬態(tài)光電流光電壓測試儀 參考價:面議

    光電流、開路電壓的瞬態(tài)特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學(xué)過程等是新型太陽電池器件的重要參數(shù)。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小,非常難以準(zhǔn)確測量出光...
    型號: TPC/TPV 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:高雄市 對比
    瞬態(tài)光電流光電壓光電流光電壓測試儀
    2025/3/13 16:30:125818

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