日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測(cè)定儀HF-100DCA

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測(cè)量樣品
• 直流方式接觸測(cè)量
• 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測(cè)量尺寸

硅錠，JIS tanzaku形狀（請(qǐng)聯(lián)系我們）

測(cè)量范圍

約50μS至20 mS

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測(cè)定儀HF-100DCA

產(chǎn)品特點(diǎn)

• 以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測(cè)量樣品
• 直流方式接觸測(cè)量
• 通過(guò)示波器和PC進(jìn)行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測(cè)量規(guī)格

測(cè)量目標(biāo)

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測(cè)量尺寸

硅錠，JIS tanzaku形狀（請(qǐng)聯(lián)系我們）

測(cè)量范圍

約50μS至20 mS