M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 上述規(guī)格欄中的分辨力和物鏡單體焦深是根據(jù)基準波長(λ＝0.55μm)計算得出的值。
注)使用的波長如果在1100nm以上，玻璃色散的變化和折射率等的測量可能會出現(xiàn)誤差，略微偏離可見光的聚焦位置。 Mitutoyo三豐物鏡M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 M Plan Apo NIR
M Plan Apo NIR 5× 378-822-5 0.14 37.5 40 2.0 14.0 4.8 0.96×1.28 220
M Plan Apo NIR 10× 378-823-5 0.26 30.5 20 1.1 4.1 2.4 0.48×0.64 250
M Plan ApoNIR 20× 378-824-5 0.40 20.0 10 0.7 1.7 1.2 0.24×0.32 300
M Plan ApoNIR 50× 378-825-5 0.42 17.0 4 0.7 1.6 0.48 0.10×0.13 315
M Plan ApoNIR 100× 378-826-15 0.50 12.0 2 0.6 1.1 0.24 0.05×0.06 335

 明視場用近紅外區(qū)校正 物鏡
M Plan Apo NIR /
M Plan Apo NIR HR

 移動控制桿，可以進行準確有效的垂直度和
直線度測量。
• 高精度垂直度和直線度測量。通過使用內(nèi)置
儀器垂直度調(diào)整機制，預先設置為主方形量
規(guī)來測量。
• 滑力: 大約 2 - 5N Mitutoyo三豐物鏡

 ·無限遠校正 ·明視場觀察及激光加工用
·長工作距離 ·平場復消色差規(guī)格
· 對可見區(qū)(常用觀察波長區(qū))到近紅外區(qū)(波長～1800nm)進行
了校正設計。
· NIR HR：高分辨力規(guī)格···分辨力提高 約50％以上(與標準型相比)

 • 高精度矩形直角尺是用于校驗諸如機床三坐
標測量機、機床、形狀測量機、半導體相關
設備等設備中的動件的運動直線度和與軸垂
直度的量規(guī)。
• 提供了四個精磨處理基準面

光滑的鉻合金磨光表面上刻有清晰的刻度。
• 經(jīng)過回火處理的不銹鋼

• 公制型塞尺為斜片。
• 各葉片上都標有厚度。
• 需要時，可將尺片拆下使用

通過數(shù)據(jù)輸出功能易于獲得統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
• 可安裝在高度尺上使用。高度尺支架
(950750 公制型)
• 可設置預調(diào)值。
• 可移動尺片。

 作為機器，模具，夾具等的角度測量、裝配、
加工的基準，使用的精密角度測量設備。
• 可安裝在高度尺上使用。
• 分度值: 5'

 采用高精度縱向、橫向水平儀，可對各種平
面進行檢測或調(diào)水平

 偏擺儀與杠桿指示表(選件) 一起使用，可實
現(xiàn)圓柱工件的同心度校準。
• 帶有指示表夾鉗。
(固定桿軸套外徑

 M Plan ApoNIR 100× 378-826-15

 M Plan ApoNIR 100× 378-826-15