電容器是一種能夠儲(chǔ)藏電荷的元件，也是常用的電子元件之一，在通訊設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、汽車(chē)電子和航空、航天等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用，隨著信息技術(shù)和電子設(shè)備的快速發(fā)展，電容器需求也呈現(xiàn)出整體上升態(tài)勢(shì)。

根據(jù)材質(zhì)不同，電容器產(chǎn)品主要可分為鉭電容器、鋁電容器、陶瓷電容器和薄膜電容器等。隨電容器需求擴(kuò)張和材質(zhì)類(lèi)別的拓展，為進(jìn)一步推動(dòng)電容器檢測(cè)技術(shù)的不斷提高與創(chuàng)新，要對(duì)電容器進(jìn)行嚴(yán)謹(jǐn)?shù)氖Х治觥?/span>

電容器因其使用的材料及其結(jié)構(gòu)不同分為不同的類(lèi)型：鉭電容器、陶瓷電容器、鋁電容器等。每種電容器因其提供的特性而具有特殊的應(yīng)用。如同三明治一樣，簡(jiǎn)單的電容器是把一個(gè)絕緣體材料夾在兩個(gè)導(dǎo)體之間，通過(guò)導(dǎo)體施加偏置電壓。

在進(jìn)行破壞性分析之前，有必要在損壞電容器的條件下盡可能多的獲取有關(guān)電容器的物理和電性能的數(shù)據(jù)。無(wú)損檢驗(yàn)技術(shù)的結(jié)果將有助于確定一條能查明導(dǎo)致電容器失效根本原因的途徑。X光作為一種經(jīng)常使用的無(wú)損檢測(cè)技術(shù)可以檢查電容器的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及其任何異常狀態(tài)（陽(yáng)極未對(duì)準(zhǔn)，弱正極或是負(fù)極接觸等）。隨著X光分辨率的改善和計(jì)算機(jī)運(yùn)行速度加快，X射線無(wú)損檢測(cè)設(shè)備成為了分析電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)的一種有益的工具。