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硅片親水性測(cè)量?jī)x的儀器介紹
本公司儀器采用現(xiàn)代化工藝制造,儀器采用*的高速CCD數(shù)字?jǐn)z像機(jī),配倍高分辨率變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng),搭配三維樣品臺(tái),可進(jìn)行工作臺(tái)上下、左右、前后等方向移動(dòng)。實(shí)現(xiàn)微量進(jìn)樣及上下、左右精密移動(dòng)。同時(shí)還設(shè)計(jì)了伸縮桿結(jié)構(gòu)工作臺(tái),能適應(yīng)在不同用戶材料厚度加大的場(chǎng)合。儀器框架可以根據(jù)式樣的大小適量調(diào)節(jié),擴(kuò)大了儀器的使用范圍。軟件搭配修正功能,測(cè)試多次后的結(jié)果可以同時(shí)保存在同一報(bào)告下,能讓用戶更好的對(duì)材料數(shù)據(jù)進(jìn)行管控。該儀器設(shè)計(jì)美觀大方、操作簡(jiǎn)單、符合用戶所需。適用于各種行業(yè)測(cè)定接觸角的用戶
提升品管的要求
光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x:是一種簡(jiǎn)單、快速、靈敏的方法測(cè)量固體表面的潤(rùn)濕性。且可間接測(cè)量固體表面能與液體表面張力。以下為測(cè)試方法比較表:
測(cè)試方法 | 優(yōu)點(diǎn) | 缺點(diǎn) |
光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x | 1.水滴角度可量化且明確 2.均勻性測(cè)量 3.誤差值小 | 成本稍高 |
表面達(dá)因測(cè)試劑 | 成本低 | 誤差大,且多次測(cè)試后影響準(zhǔn)確性,僅知有無(wú)過(guò)標(biāo)準(zhǔn) |
原子力顯微鏡AFM | 測(cè)量極細(xì)微(原子表面、奈 米結(jié)構(gòu)) | 成本高,成像小、速度慢,探頭容易損傷 |
硅片親水性測(cè)量?jī)x的產(chǎn)品特點(diǎn)
S 可微調(diào)式LED工業(yè)級(jí)冷光源系統(tǒng)(壽命20000H以上),更清晰的成像,同時(shí)避免額外熱度所導(dǎo)致的小液滴揮發(fā)
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