X射線熒光光譜儀應用

大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

優(yōu)點

1.分析速度快，測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10-300秒就可以測部待測元素。

 2.x射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態(tài)無關，而且跟固體，粉末，液體及晶質，非晶質等物體的狀態(tài)也基本上沒有關系，但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化鄧現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著，波長變化用于化學的測定。

 3.非破壞分析，在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)式樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結果重復性好。

4.X射線熒光光譜儀是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

5.分析精密高，含量測定已經(jīng)達到PPM級別。

6.制樣簡單，固體，粉末，液體樣品鄧都可以進行分析。

缺點

1.定量分析需要標樣

2.對輕元素的靈敏度要低一些。

3.容易受元素相互干擾和疊加峰影響