EKT-2002MG分散度（碳黑）檢測(cè)儀用于檢測(cè)混煉膠，橡膠中的碳黑（炭黑）分布情況。

• 高精度放大鏡頭、攝像頭及影像擷取卡
• 試片裁切機(jī)
• 可分析碳黑凝聚塊的粒子徑、平均粒子徑、粒子數(shù)…等

EKT-2002MG分散度（碳黑）檢測(cè)儀性能特點(diǎn)

• 依據(jù)ASTM D2663、ISO11345國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計(jì)制造。

• 使用精密的光學(xué)放大鏡頭及高畫質(zhì)的數(shù)位攝影機(jī)，配合高解析度的影像擷取介面，可獲取精準(zhǔn)的樣品表面影像。

• 待測(cè)膠料試片無(wú)需前置處理作業(yè)，經(jīng)由專屬配備試片裁切機(jī)即可輕易切取樣品。

• 功能強(qiáng)大的程式，可在攝取影像后立即計(jì)算出顆粒數(shù)、平均粒徑、*大粒徑、顆粒總面積…等數(shù)據(jù)，同時(shí)以柱狀圖顯示粒徑涵蓋范圍。

• 配合可存入與建立的標(biāo)準(zhǔn)圖庫(kù)，使用者可自行比對(duì)而判斷樣品混煉等級(jí)。

• 軟體提供有管制功能，可對(duì)各種粒徑數(shù)量與*大粒徑建立管制界限。

• 高精度放大鏡頭、攝像頭及影像擷取卡

• 試片裁切機(jī)

• 可分析碳黑凝聚塊的粒子徑、平均粒子徑、粒子數(shù)…等

EKT-2002MG分散度（碳黑）檢測(cè)儀性能特點(diǎn)

• 依據(jù)ASTM D2663、ISO11345國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范設(shè)計(jì)制造。

• 使用精密的光學(xué)放大鏡頭及高畫質(zhì)的數(shù)位攝影機(jī)，配合高解析度的影像擷取介面，可獲取精準(zhǔn)的樣品表面影像。

• 待測(cè)膠料試片無(wú)需前置處理作業(yè)，經(jīng)由專屬配備試片裁切機(jī)即可輕易切取樣品。

• 功能強(qiáng)大的程式，可在攝取影像后立即計(jì)算出顆粒數(shù)、平均粒徑、*大粒徑、顆粒總面積…等數(shù)據(jù)，同時(shí)以柱狀圖顯示粒徑涵蓋范圍。

• 配合可存入與建立的標(biāo)準(zhǔn)圖庫(kù)，使用者可自行比對(duì)而判斷樣品混煉等級(jí)。

• 軟體提供有管制功能，可對(duì)各種粒徑數(shù)量與*大粒徑建立管制界限。

• 高精度放大鏡頭、攝像頭及影像擷取卡

• 試片裁切機(jī)

• 可分析碳黑凝聚塊的粒子徑、平均粒子徑、粒子數(shù)…等