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應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

HT-362金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀以測(cè)試到1uΩ方阻值，雙電組合測(cè)試方法，提供中文或英文語(yǔ)言版本，PC軟件運(yùn)行。

HT-362金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀功能概述：

1. 可以測(cè)試到1uΩ方阻值

2. 恒流輸出

3. 液晶顯示

4. 自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量

5. 雙電組合測(cè)試方法.

6. 提供中文或英文語(yǔ)言版本.

7. PC軟件運(yùn)行.

適用范圍：

1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

4.抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等

應(yīng)用說(shuō)明：

四探針?lè)y(cè)試的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類(lèi)似性質(zhì)要求測(cè)量的材料。

技術(shù)參數(shù)：

1.方塊電阻sheet resistance	1×10-6～2×103Ω/□
2.電阻率resistivity	10-7～2×103Ω-cm
3.測(cè)試電流范圍test current	1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA
4.電流精度current accuracy	±0.1%
5.電阻精度resistance	≤0.3% accuracy
6.顯示讀數(shù)display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率 LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測(cè)試方式/test mode	組合雙電測(cè)試方法Combined double electric test method
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz功耗：<30W
9.誤差errors	≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）（standard samples）
10.選購(gòu)功能 choose to buy	選購(gòu)1.pc軟件；選購(gòu)2.方形探頭；選購(gòu)3.直線形探頭；選購(gòu)4.測(cè)試平；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform
11.測(cè)試探頭 test probe	探針間距選購(gòu)： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.