逆反射標(biāo)志測(cè)量?jī)x是專門設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的，用于測(cè)量生產(chǎn)，質(zhì)量監(jiān)督，工程建設(shè)和監(jiān)督部門中玻璃珠的幾何特性。具有結(jié)構(gòu)合理，操作簡(jiǎn)單，安全可靠的特點(diǎn)。光源通過半透射鏡照射到準(zhǔn)直透鏡上，將準(zhǔn)直透鏡聚焦在平面反射鏡上，然后將平面反射鏡反射到球面鏡上，球面鏡進(jìn)行二次聚焦和反射后，設(shè)置為照在平坦的透明玻璃上。在突出的路標(biāo)上，突出的路標(biāo)的反射光沿原始路徑返回，并反射到光檢測(cè)器中。那么我們?cè)谑褂脮r(shí)應(yīng)注意什么呢？
 

　　1、要選擇儀器的電源線，建議使用原始電源線，而不要使用其他電源線。

　　2、適用于粒徑小于5mm的非團(tuán)聚土壤，粒徑2-5mm的樣品質(zhì)量不超過樣品總質(zhì)量的15％。它可以通過對(duì)標(biāo)準(zhǔn)件的實(shí)際測(cè)量來校正任何測(cè)量尺寸的血管造影成像誤差，并對(duì)其進(jìn)行校準(zhǔn)，從而提高關(guān)鍵數(shù)據(jù)的批量測(cè)量精度。

　　3、進(jìn)行測(cè)試機(jī)的日常維護(hù)。逆反射標(biāo)志測(cè)量?jī)x的使用應(yīng)注意以下幾個(gè)方面：電源充電，儀器調(diào)零，儀器校準(zhǔn)和標(biāo)記測(cè)量。

　　逆反射標(biāo)志測(cè)量?jī)x采用進(jìn)口高精度硅光傳感器，性能穩(wěn)定，漏光補(bǔ)償技術(shù)，減少了自然光對(duì)測(cè)量的影響。高精度24位ADC芯片可收集數(shù)據(jù)，獲得精度并引入溫度補(bǔ)償技術(shù)，從而使測(cè)量數(shù)據(jù)更加穩(wěn)定?？煽康漠a(chǎn)品使用鋰電池供電。它可以確保節(jié)省30套測(cè)試數(shù)據(jù)和時(shí)間，用于長(zhǎng)期的戶外工作以進(jìn)行查詢。采用數(shù)字校準(zhǔn)方法，操作更加靈活，簡(jiǎn)單。該產(chǎn)品已經(jīng)過高溫和低溫測(cè)試測(cè)試，以確保在各種環(huán)境中對(duì)儀器進(jìn)行穩(wěn)定的采樣。