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美國CID CI-710葉片光譜探測儀
  • 美國CID CI-710葉片光譜探測儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-03-23 21:00:07

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美國CID CI-710葉片光譜探測儀
美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大,可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。

美國CID CI-710葉片光譜探測儀

美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強大,可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。


美國CID CI-710葉片光譜探測儀產(chǎn)品簡介:
•CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強大,可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
•通過光譜可以定性、定量的研究葉片內(nèi)各組分葉綠素a或b、蛋白質(zhì)、糖、礦物質(zhì)等含量及比例變化
•直觀的光譜圖像和現(xiàn)場數(shù)據(jù)存儲,為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段


產(chǎn)品特點:
•非常便攜,適合于室內(nèi)或野外使用
•非破壞性測量葉片在400~950nm波長范圍內(nèi)的反射率、透射率和吸收率
•掃描速度快,靈敏度高
•USB接口連接UMPC數(shù)據(jù)處理終端
•樣品類型,葉片或扁平的物體

標(biāo)準(zhǔn)配置:
•光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數(shù)據(jù)終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱


技術(shù)參數(shù):

測量方式:非破壞性測量葉片
測量光譜:葉片透射、吸收和反射光譜
樣品類型:葉片或扁平的物體
檢測器:CCD線性陣列探測器
掃描波長范圍:400~950 nm 
采樣速度:3.8ms-10s
光偏離:<0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率:0.3~10.0nm FWHM
采樣直徑:7.6 mm
線性修正:>99.8%
配有CI-700LP葉夾
尺寸:89.1 x 63.3 x 34.4 cm
重量:290g


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