Lambdafire™是一款*的軟件系統(tǒng)，能夠控制CRAIC顯微分光光度計(jì)和分析數(shù)據(jù)。 Lambdafire™能夠?qū)崿F(xiàn)儀器的*控制以及*的成像和強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析處理，同時多功能的插件模塊能夠?qū)崿F(xiàn)更多的軟件功能，如自動化控制、光譜三維繪圖、薄膜厚度測量等多種功能。

      CRAIC的Lambdafire™軟件系統(tǒng)，能夠使CRAIC顯微分光光度計(jì)用戶實(shí)現(xiàn)儀器控制、光譜獲得、成像以及光譜和圖像的分析。

Lambdafire™軟件系統(tǒng)不僅能使您對CRAIC顯微分光光度計(jì)實(shí)現(xiàn)*控制，同時能夠通過對樣品進(jìn)行透射、吸收、反射、偏振、熒光和拉曼譜儀檢測，獲得高品質(zhì)的光譜信息和圖像，并能精確和詳盡的進(jìn)行數(shù)據(jù)和圖像分析處理，特別是配有自定義的觸屏式圖像處理界面操作。Lambdafire™能夠提供手動或者全自動化的儀器控制。

    Lambdafire™軟件包:
◆一個易于使用的顯微分光光度計(jì)控制和分析的軟件模塊
◆顯微分光度計(jì)自動化控制盒編程
◆擁有許多*設(shè)計(jì)，*的支持科研和生產(chǎn)
◆ 圖像和光譜的分析處理
◆多種插件模塊可選，如5D Spectal Mapping™、薄膜厚度、比色分析等
◆觸摸屏設(shè)計(jì)和易于操作的顯微光譜分析專家

CRAIC FilmPro™薄膜厚度

CRAIC FilmPro™能夠通過反射率或透射率測量薄膜的薄膜厚度值。 您可以在微觀區(qū)域和許多不同的基板上進(jìn)行此操作。 這使您不僅可以分析硅等基板上的薄膜，還可以分析平板顯示器和其他設(shè)備中常見的玻璃或石英薄膜。 與5D Spectral Mapping™結(jié)合使用時，您可以在表面上生成高度空間分辨率的薄膜厚度圖。

CRAIC TimePro™ 動力學(xué)顯微光譜
CRAIC TimePro™允許您測量微觀樣品區(qū)域隨時間的光譜響應(yīng)。 能夠覆蓋完整的紫外-可見-近紅外范圍，TimePro™可在您的時間間隔內(nèi)生成3D顯示。 它能夠通過透射率、反射率、發(fā)射、偏振或拉曼來測量光譜，并顯示樣品的變化情況。
CRAIC  ColorPro™比色法

當(dāng)添加到CRAIC顯微光譜儀時，您可以確定顯微樣品的比色值。 比色法計(jì)算可以在小至1微米的樣品上進(jìn)行，并且可以在反射率、透射率甚至熒光光譜上進(jìn)行。 用CRAIC顯微光譜儀數(shù)據(jù)計(jì)算的比色法空間包括CIE XYZ，CIE LAB等。

GeoImage™地質(zhì)分析軟件

CRAIC GeoImage™是一種新的地質(zhì)分析工具，僅使用高分辨率數(shù)字成像代替光譜學(xué)。 從相機(jī)收集圖像并逐個像素地分析以測量鏡質(zhì)體反射率。除了具有點(diǎn)計(jì)數(shù)選項(xiàng)外，該軟件還可以自動掃描整個樣本。用于使用標(biāo)準(zhǔn)測試方法ISO 7404-5、ASTM D2798和GB/T 6948進(jìn)行有機(jī)巖相分析。

GeoImage™通過讀取攝像頭每個像素的鏡質(zhì)體反射強(qiáng)度來工作。這意味著，在標(biāo)準(zhǔn)配置中，可以同時測量數(shù)百萬個點(diǎn)，使鏡質(zhì)體反射率測試快速，簡單且準(zhǔn)確。 GeoImage™可配置為測量煤、干酪根和石油源巖以及其他許多材料的反射率。憑借靈活的設(shè)計(jì)，GeoImage™具有點(diǎn)計(jì)數(shù)功能，測試過程自動化和高分辨率彩色成像，將輕松滿足煤炭測試方法和您自己實(shí)驗(yàn)的未來變化。