LBT涂層測厚儀主要用途：
本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。
 
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍0-1250mm
測量精度±3%H±1.5ｕm
顯示精度0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
Z小基體10X10mm
Z小曲率凸：5mm   凹：25mm
Z薄基體0.5mm

LBT涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

LBT涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：

測量范圍	0-1250mm
測量精度	±3%H±1.5ｕm
顯示精度	0~99.99ｕm:0.1ｕm 100ｕm以上：1ｕm
zui小基體	10X10mm
zui小曲率	凸：5mm   凹：25mm
zui薄基體	0.5mm
環(huán)境溫度	0℃~40℃相對濕度：不過85%
電源	DC9VX1

 

圖片展示

 

涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。

 

涂層測厚儀主要用途：

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度 。