NPflex 大樣品計量檢測光學(xué)輪廓儀

針對大樣品設(shè)計的非接觸測試分析系統(tǒng)

（1）靈活測量大尺寸樣品，滿足高難度測量角度的測量

（2）高效的三維表面信息測量

（3）垂直方向納米分辨率提供更多的細節(jié)

（4）快速獲取測量數(shù)據(jù)，測試過程迅速高效

布魯克的NPFLEX™3D表面測量系統(tǒng)為精密制造業(yè)帶來的檢測性能，實現(xiàn)更快的試產(chǎn)擴量時間，提高了產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)力?；诎坠馇娴脑?，這套非接觸系統(tǒng)提供了諸多*進的優(yōu)點，遠超通常接觸式坐標測量儀(CMM)和工業(yè)級探針式輪廓儀的測量技術(shù)所能提供的。這些測量優(yōu)勢包括高分辨的三維圖像，進行快速豐富的數(shù)據(jù)采集，幫助用戶更深入地了解部件的性能和功能。積累幾十年的干涉技術(shù)和大樣品測量儀器設(shè)計的經(jīng)驗，NPFLEX™3D可以靈活地測量大尺寸樣品的光學(xué)測量系統(tǒng)，而且能夠高效快捷地獲得從微觀到宏觀等不同方面的樣品信息，可用于表面粗糙度，RDLxian進封裝工藝厚度等測試。

NPflex 大樣品計量檢測光學(xué)輪廓儀其靈活性表現(xiàn)在可用于測量表征更大的面型和更難測的角度

（1）創(chuàng)新性的空間 設(shè)計使得可測零件(樣品)更大(高達330毫米)、形狀更多

（2）開放式龍門、定制的夾具和可選的旋轉(zhuǎn)測量頭可輕松測量待測部位

高效的三維表面信息測量

（1）每次測量均可獲取整個表面高度信息，用于各種分析

（2）更容易獲得更多的測量數(shù)據(jù)來幫助分析

垂直方向納米分辨率提供更多的細節(jié)

（1）干涉技術(shù)實現(xiàn)每一個測量象素點上的亞納米級別垂直分辨率

（2）工業(yè)界使用多年業(yè)已驗證的干涉技術(shù)提供具有統(tǒng)計意義的數(shù)據(jù)，為日漸苛刻的加工工藝提

供保障

測量數(shù)據(jù)的快速獲取保證了測試的迅速和高效

（1）少的樣品準備時間和測量準備時間

（2）比接觸法測量(一條線)更大的視場(一個面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)

技術(shù)參數(shù)