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當前位置:安賽斯(北京)科技有限公司>>無損檢測系統(tǒng)>>微焦點X射線及工業(yè)CT系統(tǒng)>> FF35 CT安賽斯多用途高分辨工業(yè)CT系統(tǒng)
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號FF35 CT
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地國外
更新時間:2025-03-13 16:04:47瀏覽次數(shù):4172次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)德國X射線及工業(yè)CT系統(tǒng)Y. CT Precision
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應用領(lǐng)域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件,電氣 |
安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業(yè)CT系統(tǒng)
產(chǎn)品名稱: 安賽斯FF35 CT多用途高分辨工業(yè)CT系統(tǒng)
產(chǎn)品型號:FF35 CT
應用行業(yè): 汽車制造, 微電子, 航空航天, 科研開發(fā), 鑄造, 半導體, 增材制造
缺陷尺寸: <1µm 缺陷, <50µm 缺陷, <1mm 缺陷, >1mm 缺陷
樣品尺寸: 小型, 中型, 大型
運行模式: 3D, 2D/3D, 計量
FF35 CT 亮點
單或雙射線管配置,可最大限度提高實驗室微焦點CT應用多功能性
只需輕觸一個按鈕,即可在數(shù)秒內(nèi)在 225 kV Micro-focus管和190 kV Nano-focus管之間自如切換
花崗巖底座操控和溫控,確保精確的結(jié)果
通過Geminy軟件平臺進行各種CT軌跡和視場 (FoV) 擴展,應用靈活
可選計量版本,測量精度可達 MPESD = 5.9 µm + L/75 [L in mm]
提供符合半導體市場標準的 FF35 CT SEMI 版本
新產(chǎn)品!最大樣品重量可達 50 千克 - 也可提供升級服務(wù)
可靈活檢測中小型零件
Analysis FF35 CT、FF35 CT Metrology和FF35 CT SEMI 涵蓋了非凡的應用范圍。豐富的功能涵蓋了研發(fā)部門的改良材料測試、過程控制和小批量檢驗的優(yōu)化,以及各種科學應用。雙X射線管配置幫助高分辨率CT系統(tǒng)大幅擴展汽車、電子、航空和材料科學行業(yè)的質(zhì)量保證和研究的應用空間。
成熟驗證技術(shù): 225 kV 折射式微焦點射線管
225 kV Analysis 折射式微焦點射線管具有 320 W 高功率和水冷靶材,可在不到一分鐘的時間內(nèi)完成快速 CT 掃描。2D 檢測時,射束管空間分辨率為 4 μm。可在單個檢測序列內(nèi)自如切換折射式微焦點射線管和納焦點透射管,大幅擴展應用范圍。
額外選配: 190 kV 納焦點透射管
對于10 mm 或更小尺寸的零件,分辨率在亞微米范圍內(nèi)的 190 kV 納焦點透射管是理想的解決方案,有助于高分辨率檢查各種樣本:雖然其水冷式放射管頭可實現(xiàn)快速溫度調(diào)節(jié)并具有焦點穩(wěn)定性,但可通過四種模式基于功率進行相應的焦點尺寸適配調(diào)整。由于兩根射線管均自備發(fā)生器和高壓電纜,因此無需重新配置即可輕松切換。
各種軌跡最大限度提高靈活性
Geminy直觀的用戶界面上顯示的圖形符號和廣泛的自動化功能,操作簡便,不受操作員技能水平限制。同時,該軟件還隨附了豐富的功能,可靈活應對各類零件尺寸和檢查任務(wù),包括 HeliExtend(螺旋CT掃描和重建方法)等CT軌跡、水平和垂直視場擴展、虛擬旋轉(zhuǎn)軸和標準QuickScan/QualityScan。
FF35 CT可檢測哪些物體?
電子器件,包括SMD
涉及新材料或新制造方法的產(chǎn)品,如增材制造零件、纖維增強塑料
電池電芯和模組
注塑成型塑料
微系統(tǒng) (MEMS, MOEMS)
醫(yī)療用品,例如插管
輕合金鑄件
地質(zhì)、古生物和生物樣本
FF35 CT 用于哪些應用?
質(zhì)量保證、材料分析和研究
失效與結(jié)構(gòu)分析
裝配檢查
小批量生產(chǎn)檢驗
過程控制
數(shù)字化
無損剖切
FF35 CT SEMI: 專為半導體領(lǐng)域應用研發(fā)
Analysis FF35 CT SEMI X射線系統(tǒng)是一種創(chuàng)新的多功能高分辨率 CT 系統(tǒng),用于研發(fā)和質(zhì)量保證領(lǐng)域。這套系統(tǒng)專為半導體相關(guān)行業(yè)檢驗應用開發(fā)。FF35 CT SEMI 符合 SEMI® 的嚴苛標準(包括 SEMI® S2-0818 和 SEMI® S8-0218 危險和安全標準)并通過了相應的認證。
使用FF35 CT Metrology測量超精細內(nèi)部結(jié)構(gòu)
Analysis FF35 CT Metrology將CT尺寸控制(例如超精細內(nèi)部結(jié)構(gòu)測量)的精確度提升至全新維度。一次 CT 掃描近乎捕獲幾乎無限的測量點,不受測量評估結(jié)果影響。無縫缺陷分析和名義值-實際值比較,節(jié)省時間并減少產(chǎn)品抽樣校正循環(huán)相關(guān)的校正成本。FF35 CT Metrology符合VDI/VDE 2630 標準。
FF35 CT關(guān)鍵技術(shù)參數(shù):
名稱: 高分辨率微焦點CT系統(tǒng) FF35 CT
關(guān)鍵詞:FF35 CT,X射線檢測,微焦點X光機,無損檢測,射線檢測
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