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當(dāng)前位置：德國韋氏納米系統(tǒng)（香港）有限公司>>產(chǎn)品展示
KLA Alpha-Step®D-500探針式輪廓儀能夠測量幾納米到1200微米高的2D臺(tái)階。D-500也支持在研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)節(jié)中對粗糙度、彎曲度和應(yīng)力...
KLA Tencor® P-17探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維...
KLATencor® P-7探針式輪廓儀為生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)節(jié)提供了從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測量功能。該系統(tǒng)支持對臺(tái)階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行二維(...
半導(dǎo)體薄膜生長表面檢測KLA Alpha-Step® D-600探針式輪廓儀能夠測量從幾納米到 1200微米的2D和3D臺(tái)階高度。D-600 還支持2...
KLA Filmetrics F50薄膜厚度測量儀采用自動(dòng)化R-Theta平臺(tái)，支持標(biāo)準(zhǔn)和定制化樣品夾盤，最大樣品直徑達(dá)450毫米，能高效測繪薄膜厚度。該設(shè)備適...
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧y量工具，實(shí)現(xiàn)小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設(shè)備配備集成彩色攝像機(jī)，可在1秒內(nèi)完成...
KLA Filmetrics F30薄膜厚度測量儀通過實(shí)時(shí)監(jiān)控沉積過程，提供高精度、快速且非侵入式的測量解決方案，適用于多種半導(dǎo)體和電介質(zhì)材料。其主要特點(diǎn)包括提...
KLA Filmetrics F3-sX薄膜厚度測量儀系列，涵蓋近紅外光波長范圍980 nm、1310 nm及1550 nm，能夠測量從15納米至3毫米的薄膜厚...
KLA Filmetrics F3-CS快速厚度測量系統(tǒng)專為微小視野及樣品設(shè)計(jì)，支持快速、簡易的厚度測量，適用于聚對二甲苯和真空鍍膜層等。其具備自動(dòng)校正功能，可...
KLA Filmetrics F10-RT薄膜厚度測量儀通過同時(shí)測量反射和透射光譜，實(shí)現(xiàn)真空鍍膜的快速、精確分析。該設(shè)備價(jià)格合理，具備分析、FWHM確定及顏色分...
KLA Filmetrics F10-HC薄膜厚度測量儀是一款專為測量單層和多層硬涂層設(shè)計(jì)的儀器，基于F20平臺(tái)，采用光譜反射分析技術(shù)，提供快速準(zhǔn)確的測量結(jié)果。...
KLA Filmetrics F20臺(tái)式薄膜厚度測量系統(tǒng);經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的膜厚儀系列在幾秒鐘內(nèi)就能完成高精度的薄膜厚度測量。這些易于使用的儀器與智能軟件和一系列附件和...
KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒...
KLA Filmetrics F10-AR薄膜厚度測量儀便攜式反射儀帶有內(nèi)部光纖，利用具有長壽命、低功率光源可以測量曲面上的減反射涂層厚度。以極低的價(jià)格在幾秒鐘...
KLA Filmetrics R50系列四探針電阻測試儀可對金屬層厚度、薄膜電阻、薄膜電阻率、薄膜電導(dǎo)和薄膜電導(dǎo)率進(jìn)行測繪。R54是方塊電阻測量的最新一代升級(jí)款...
KLA NanoFlip納米壓痕儀可在真空和氣氛條件下，準(zhǔn)確、精密地進(jìn)行硬度、模量、屈服強(qiáng)度、剛度和其它納米力學(xué)性能的測試。無論在掃描電子顯微鏡(SEM)或是聚...
KLA iNano®納米壓痕儀使測量薄膜、涂層和小體積材料變得更簡單。準(zhǔn)確、靈活、用戶友好的儀器可以進(jìn)行多樣的納米材料力學(xué)測試，包括壓痕、硬度、劃痕和...
KLA Nano Indenter® G200X納米壓痕儀是一種易于使用的納米級(jí)力學(xué)測試工具，可快速提供精確的定量分析結(jié)果。G200X系統(tǒng)可處理從硬質(zhì)...
KLA iMicro納米壓痕儀可輕松測量硬質(zhì)涂層、薄膜和小尺寸材料等。其準(zhǔn)確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度測試、劃痕和納米級(jí)萬能試驗(yàn)等多種納米力學(xué)測試...
KLA Candela® 7100系列缺陷檢測和分類系統(tǒng)為硬盤驅(qū)動(dòng)器基板和介質(zhì)提供了高級(jí)缺陷檢測和分類功能。7100系列硬盤驅(qū)動(dòng)器缺陷檢測和分類系統(tǒng)以...
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