原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
準(zhǔn)確成像, 無(wú)交叉耦合現(xiàn)象 業(yè)界*的XYZ軸線性度，樣品和探針?lè)謩e由獨(dú)立的柔性制導(dǎo)掃描器控制移動(dòng) Z低的平面偏移度，全程水平掃描時(shí)平面偏移量不超過(guò)1納米 垂直掃...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
- 原子力顯微鏡（AFM）有納米級(jí)分辨率成像以及電，磁，熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。- 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡（SICM）。- 倒置光學(xué)顯微...
原子力顯微鏡 參考價(jià)：面議
在同級(jí)產(chǎn)品中，Park XE7能夠帶來(lái)Z高納米級(jí)分辨率的測(cè)量效果。得益于*的原子力顯微鏡架構(gòu)，即獨(dú)立的XY軸和Z軸柔性掃描器，XE7能夠?qū)崿F(xiàn)平滑、正交且線性的掃...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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