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高溫動(dòng)態(tài)彈性模量無(wú)損檢測(cè)儀Z基本的機(jī)械性能指標(biāo)，然而以前對(duì)材料彈性模量的精確測(cè)量卻既費(fèi)時(shí)費(fèi)力。尤其在高溫材料的彈性模量檢測(cè)對(duì)環(huán)境的控制也提出了嚴(yán)格的要求。J.W...

LAMBDA 導(dǎo)熱系數(shù)儀基于熱線法，符合ASTM D7896-19,是一種緊湊的測(cè)量裝置，用于確定(納米級(jí))液體、膠體和粉末的熱導(dǎo)率。廣泛應(yīng)用于世界各地實(shí)驗(yàn)室和...

Nanonics Academia原子力顯微鏡是一款性價(jià)比很高的，使用的靈活性很大的儀器。

HOT DISK導(dǎo)熱系數(shù)儀：HOT DISK熱常數(shù)測(cè)試儀被廣泛應(yīng)用在電力、汽車、材料、生物制藥等領(lǐng)域。

紅外金平面反射爐該系列應(yīng)用廣泛，從碳納米管生產(chǎn)系統(tǒng)到產(chǎn)線生系統(tǒng)；平面金反射爐可用于2~12英寸圓晶的退火爐和產(chǎn)品的烘干爐；

EPSILON+是一個(gè)用于測(cè)量流體材料介電性質(zhì)的微型測(cè)量系統(tǒng)，且符合DIN51111標(biāo)準(zhǔn)。比如，該設(shè)備可以用來(lái)表征發(fā)動(dòng)機(jī)和齒輪油以及潤(rùn)滑脂的介電性能。研究電動(dòng)汽...

Super LIX-R非接觸法激光熱膨脹儀系統(tǒng)是采用線性偏轉(zhuǎn)氦氖激光器的雙光路型邁克爾遜干涉儀的高靈敏度非接觸式熱膨脹儀。這種高精度膨脹儀是基于激光波長(zhǎng)對(duì)與樣品...

一鍵式手持型拉曼光譜儀SERSTECH 100 Indicator手持式，體積小，易攜帶，便于操作應(yīng)用領(lǐng)域：食品藥品安全檢測(cè)產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制化學(xué)物質(zhì)安全運(yùn)輸

SAL1000G是一款包含手套箱小型桌面ALD原子層沉積系統(tǒng)，具有良好的均勻性及*的階梯覆蓋性能，使用戶能夠精確控制每個(gè)原子層的沉積。通過(guò)手套箱，可在惰性氣體環(huán)...

日本SUGA公司自SPS-放電等離子燒結(jié)技術(shù)誕生以來(lái)，一直伴隨著SPS技術(shù)在世界的發(fā)展，1997年開始代工生產(chǎn)SPS設(shè)備，經(jīng)過(guò)多年的技術(shù)積累，現(xiàn)推出Sx、Rx系...

紅外教學(xué)系統(tǒng)是致力于研發(fā)紅外應(yīng)用產(chǎn)品的法國(guó)企業(yè)。Thermoconcept長(zhǎng)期涉足教育系統(tǒng)，始終把支持教師對(duì)于學(xué)生的教學(xué)工作作為自己的使命。Thermoconc...

RTP快速退火爐已經(jīng)成為半導(dǎo)體、鐵電體以及鍍膜行業(yè)的重要退火技術(shù)。但是目前，只有大型的、昂貴的生產(chǎn)設(shè)備才能完成快速熱處理，這大大降低了研發(fā)工作的效率（尤其是小的...

AC法熱擴(kuò)散率測(cè)量系統(tǒng)LaserPIT通過(guò)掃描激光加熱埃法測(cè)量薄板材料平面方向上的熱擴(kuò)散系數(shù)；對(duì)于高導(dǎo)熱材料，還可測(cè)量亞微米的薄膜。特點(diǎn)：1. 精確測(cè)量從鉆石到...

高溫快速熱退火爐HT-RTA59HD高溫快速退火系統(tǒng)可以在SiC等高熔點(diǎn)的材料快速加熱到1800℃。

激光顯微拉曼光譜儀特色:Scan/view 影像/訊號(hào)快速滑動(dòng)切換波長(zhǎng):488/532/633/785顯微拉曼/PL光譜量測(cè)10X/50X/100X光學(xué)放大倍率...

薄膜熱擴(kuò)散系數(shù)測(cè)試儀利用溫度波技術(shù)測(cè)試薄膜材料的熱擴(kuò)散系數(shù)，主要特點(diǎn)如下：1. 重量輕，尺寸??；2. 節(jié)能；3. 操作簡(jiǎn)單，無(wú)須經(jīng)驗(yàn)；4. 適用于薄膜類型樣品，...

TLS 100是一款測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻的便攜式測(cè)試儀，遵循ASTM D5334-標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法，利用熱探針測(cè)試泥土和軟巖石等物質(zhì)。

Hot Disk熱常數(shù)分析儀TPS3500是Hot Disk于2015年開發(fā)的一款用于測(cè)試更小型的樣品以及更高導(dǎo)材料的新設(shè)備。由于部件的調(diào)整，該設(shè)備Z短測(cè)試時(shí)間...

近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡NSOM也習(xí)慣稱為掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡SNOM，是用于納米材料表征*可獲得優(yōu)于光波長(zhǎng)分辨率的手段。通常近場(chǎng)掃描光學(xué)顯微鏡與原子力顯微鏡AFM結(jié)合...

HOT DISK導(dǎo)熱系數(shù)儀--HOT DISK熱常數(shù)測(cè)試儀被廣泛應(yīng)用在電力、汽車、材料、生物制藥等領(lǐng)域。