SSR-ER太陽光譜反射率儀

應用行業(yè)：

• 航空航天域：溫控材料表面

• 涂料和薄膜域：控制和保護

• 太陽能：涂層吸收，反射涂層，鏡面材料和反光鏡片

技術規(guī)格：

• 分辨率：4 個數字液晶顯示反射比、吸收比和透射比至0.001 個單位

• 重復性：±0.003 個單位

• 準確度：使用校正板，對某典型的太陽輻射，偏差±0.002，標準偏差0.005

• 漂移：預熱5 分鐘后，不超過（1%讀數值±0.003 個單位）/小時

• 操作溫度：電子組件≤60℃，探測頭和透射比附件≤50℃

• 操作和儲存濕度：≤80%

• 校正板：配有漫反射和鏡面反射標準板，它們是經過NBS 校正的二標準板 （編號2019 和2023），標準板的校正數據已經程序化在電子組件中，有校正記錄可提供

• 測量孔：反射測試孔直徑是1 英寸（25.4mm）。樣品放置在圍繞測試口的氟隆墊圈上，墊圈的作用是防止樣品在檢測時遭受損壞，樣品的小尺寸是直徑1.1 英寸（28mm）；透射比測試孔的直徑是1.5 英寸（38mm）樣品放在支架盤上，樣品的小尺寸是1.65 英寸（42mm）

• 光源：可替換的鹵鎢燈反射測量：鹵鎢燈對樣品孔處的樣品提供漫照射，反射光能在與正常情況下成20°角被檢測器接收。通過相互作用，這個檢測結果等同于在同樣檢測條件下檢測得到的直射光能。

• 透射測量：待測樣品被漫照射，透射光能在與正常情況下成0～60°的固定角度被檢測器接收。通過相互作用，這個檢測結果等同于在個想要的角度檢測得到的樣品直透射光能。

• 檢測光譜：為了匹配不同的光譜范圍，6 個檢測器的加權結果通過套參考反射比瓷磚校正的光譜來實現。每臺儀器會生成組特定加權，這樣，太陽光譜的匹配會達到優(yōu)化，從而大限度地減少不同儀器間的變化影響檢測結果。

太陽輻射匹配的選擇如下：

ASTM G173 氣團1.5 總輻照度

ASTM G173 氣團1.5 直射福照度

氣團 1 水平表面總輻照度

氣團 1 正常直射組分

氣團 1 漫射組分

氣團 0 正常直射

ASTM E891‐87 氣團 1.5 正常直射

氣團 2 正常直射版本5 評估

氣團 1.5 正常直射版本5 評估

氣團 0 正常直射版本5 評估

紅外光、紅光、藍光和紫外光檢測器在～3125K 光源燈下的讀數

紅外光和紅光檢測器在～2300K 光源燈下的讀數

• 電源：100‐240V，50‐60HZ，通用適配器

• 手提箱：盛放電子組件、探測頭、電源線、備件和其它選項（不包括透射比附件）

• 電線：軟性電線用于反射比或透射比探測頭與電子組件的連接，標準長度是5英尺（1.5m），另有32 英尺（10m）電線可選

• 重量：探測頭 2 lbs（0.9KG）

電子組件 4 lbs（1.8KG）

透射比附件 10 lbs（4.5KG）

尺寸：

SSR-ER太陽光譜反射率儀 外形尺寸

SSR‐T

訂貨編號：LR-100514