3380-D VLSI測(cè)試系統(tǒng)

主要特色：

• 100 MHz 測(cè)試頻率
• 256 logic I/O pins ( zui高可至 576 pins)
• 平行測(cè)試可達(dá) 256 devices
• 32/64/128 M Pattern 記憶體
• 多樣彈性 VI 電源
• 彈性化硬體結(jié)構(gòu) (可互換式 I/O, VI, ADDA)
• Real parallel Trim/Match 功能
• 時(shí)序頻率測(cè)試單位 (TFMU)
• AD/DA 功能卡 選配 (16/24 bits)
• SCAN 測(cè)試功能 選配 (1G/Board)
• ALPG 測(cè)試 選配供記憶體IC用
• STDF 工具支援
• 測(cè)試程式/pattern 轉(zhuǎn)換器(J750, D10, V50, E320, SC312, V7,TRI-6020, ITS9K)
• 人性化 Window 7操作環(huán)境
• CRAFT C/C++ 程式語(yǔ)言
• 程式語(yǔ)言同3360P & 3360
• Direct mount 治具可相容於3360P probe-Card
• Cable mount 治具可相容於3360D & 3360P

為因應(yīng)未來(lái)IC晶片須具更高速度及更多腳位及功能更複雜的IC晶片，Chroma新一代VLSI測(cè)試機(jī) 3380D/380P/3380除採(cǎi)用更彈性架構(gòu)外，整合密度更高且功能更強(qiáng)大。 3380D/3380P/3380機(jī)型為因應(yīng)高同測(cè)功能 (High Parallel Test)，除內(nèi)建獨(dú)特的4-wire功能高密度IC電源(VI source) 外，更具備any-pins-to-any-site高同測(cè)功能( 256 I/O pin可 同測(cè)256個(gè)測(cè)試晶片)，以因應(yīng)未來(lái)IC晶片更高的測(cè)試需求。

3380D/380P/3380 系列同時(shí)具備機(jī)框式直流電源供應(yīng)的小型/低耗能化設(shè)計(jì)及非常具競(jìng)爭(zhēng)性的機(jī)臺(tái)性價(jià)比。

3380D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)非常適合應(yīng)用於IoT相關(guān) 的晶片測(cè)試，尤其是一些具成本壓力的元件 如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI 測(cè)試系統(tǒng) 3380D/3380P/3380 系列開發(fā)至今，已在大中華 地區(qū)被廣泛的採(cǎi)用。