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HD-7000-自動(dòng)元件分析儀
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  • HD-7000-自動(dòng)元件分析儀

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貨物所在地: 北京北京市
更新時(shí)間: 2025-03-11 21:00:32
期: 2025年3月11日--2025年9月11日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)試頻率20Hz~1MH*有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率

詳細(xì)介紹

  • 產(chǎn)品名稱:自動(dòng)元件分析儀
  • 規(guī)格型號(hào):HD-7000

產(chǎn)品概述詳細(xì)

測(cè)試電平10mV~2V,10mv步進(jìn)

zui高達(dá)80次/s的測(cè)量速度

六位讀數(shù)分辨率

內(nèi)部自帶直流偏置源

圖形掃描分析功能

內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能

測(cè)試頻率20Hz~1MH*有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率

基本準(zhǔn)確度0.1%

320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示

10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

外置偏流源至40A

V、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存/讀取

多種通訊接口方便用戶聯(lián)機(jī)使用

全英文操作界面

 

LCR測(cè)量參數(shù)

C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR

測(cè)試頻率

20Hz~1MHz,10mHz步進(jìn)

測(cè)試電平范圍

f≤1MHz
10mV~5V,±(10%+10mV)
f>1MHz
10mV~1V,±(20%+10mV)恒電平到5V

輸出阻抗

25Ω50Ω,100Ω

基本準(zhǔn)確度

0.1%

測(cè)量速度或測(cè)試時(shí)間

快速:80次/s(f﹥30KHz),100次/s(f﹥1KHz)
中速:25次/s,慢速:5次/s

等效電路

串聯(lián)方式,并聯(lián)方式

量程方式

自動(dòng),保持

觸發(fā)方式

內(nèi)部,手動(dòng),外部,總線

平均次數(shù)

1-80

清零功能

開路/短路掃頻清零,負(fù)載校準(zhǔn)

內(nèi)部直流偏置源

電壓模式:-5V~+5V,±(10%+10mV),1mV步進(jìn),電流模式(內(nèi)阻為50Ω):-100mA~+100mA,
±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)

比較器功能

十檔:(九檔合格,一檔不合格),另有一個(gè)附屬檔

存儲(chǔ)器

可保存20組儀器設(shè)定值

接口

RS232C,HANDLER,

R、X、Z

Y、B、G

C

L

D

Q

θ(DEG)

Δ%

DCR

0.1mΩ~999.999MΩ

0.1nS~99.9999S

0.001pF~999.99mF

0.1nH~9.9999kH

0.0001~99999

0.0001~99999

-90.99°~+90.00°

-999.99%-999.99%

0.01mΩ—99.999kΩ

列表掃描

10點(diǎn)列表掃描

顯示器

320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD

測(cè)試端

5端法

顯示方式

直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示),檔號(hào)及檔計(jì)數(shù)

 

簡(jiǎn)要介紹:

高頻自動(dòng)元件分析儀是采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%/0.1%的基本精度、20Hz—1MHz的頻率范圍及高達(dá)100MΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的一切測(cè)量要求,特別有利于測(cè)量低D電容器和高Q電感器的測(cè)量。其支持20V交流測(cè)試信號(hào)和40A直流偏置的高功率測(cè)試條件及列表掃描功能將有利于用戶擴(kuò)展元件評(píng)價(jià)的能力。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

高頻自動(dòng)元件分析儀是電子元件設(shè)計(jì)、檢驗(yàn)、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測(cè)試的強(qiáng)有力工具。它的優(yōu)良性能和功能為電路的設(shè)計(jì)和開發(fā)以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發(fā)提供了強(qiáng)有力的工具。計(jì)算機(jī)通訊及測(cè)試過程記錄提供了條件。

廣泛的測(cè)量對(duì)象:

無源元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。

半導(dǎo)體元件:電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測(cè)量。

其它元件:印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。

介質(zhì)材料:塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評(píng)估。

磁性材料:鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。

半導(dǎo)體材料:半導(dǎo)體材料的介電常數(shù),導(dǎo)電率和C-V特性。

液晶材料:液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。

多種元件、材料特性測(cè)量能力

揭示電感器件的多種特性

高頻自動(dòng)元件分析儀的性能和20Hz-1MHz的測(cè)試頻寬可以地分析磁性材料、電感器件的性能

使用10301選件的100mADC的偏置電流可以測(cè)量高頻電感器件、通訊變壓器,濾波器的小電流疊加性能。使用1775電流疊加裝置,可使偏置電流達(dá)40A以分析高功率、大電流電感器件。

的陶瓷電容測(cè)量1kHz和1MHz是陶瓷材料和電容器的主要測(cè)試頻率。陶瓷電容器具有低損耗值的特征,同時(shí)其容量、損耗施加之交流信號(hào)會(huì)產(chǎn)生明顯的變化。儀器具有寬頻測(cè)試能力并可提供良好的準(zhǔn)確度,六位分辨率和自動(dòng)電平控制(ALC)功能等,中以滿足陶瓷材料和電容器可靠、準(zhǔn)確的測(cè)試需要。

液晶單元的電容特性測(cè)量

電容-電壓(C-Vac)特性是評(píng)價(jià)液晶材料性能的主要方法,常規(guī)儀器測(cè)量液晶單元的C-Vac特性遇到一個(gè)問題是zui大測(cè)試電壓不夠。使用選件可提供分辨率為1%及zui高達(dá)20Vms的可編程測(cè)試信號(hào)電平,使它能在*條件下進(jìn)行液晶材料的電容特性測(cè)量。

半導(dǎo)體材料和元件的測(cè)量

進(jìn)行MOS型半導(dǎo)體制造工藝評(píng)價(jià)時(shí),需要氧化層電容和襯底雜質(zhì)密度這些參數(shù),這些可從C-Vdc特性的測(cè)量結(jié)果推導(dǎo)出來。

20HZ-1MHz的測(cè)量頻寬及高達(dá)40VDC的可編程偏置電壓方可方便地完成C-VDC特性的測(cè)量。

為了測(cè)試晶圓上的半導(dǎo)體器件,需要延伸電纜和探頭,儀器的2m/4m延伸電纜選件可將電纜延伸的誤差降至zui小。各種二極管、三機(jī)管、MOS管的分布電竄也是本儀器的測(cè)試內(nèi)容。

適應(yīng)多種領(lǐng)域的測(cè)試需要提高生產(chǎn)效率

高頻自動(dòng)元件分析儀30次/秒的測(cè)試速度可滿足大多數(shù)生產(chǎn)場(chǎng)合高效測(cè)試的需要,從而提高生產(chǎn)廠的產(chǎn)能。內(nèi)建比較器、電纜長(zhǎng)度補(bǔ)償、Handler接口可方便地用于自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

應(yīng)用廣泛的品質(zhì)檢驗(yàn)手段

儀器具備的20Hz-1MHz的頻寬及5mVms-20ms的信號(hào)電平范圍可滿足絕大多數(shù)元件的檢測(cè)需要。

10301及1775的配置解決了器件直流偏置測(cè)量的要求。提供徑向、軸向、SMD元件的多種測(cè)試夾具配置。

用戶友好的操作界面簡(jiǎn)化的前面板操作儀器配置的320x240點(diǎn)陣的LCD顯示器使操作者可清晰地觀察測(cè)量結(jié)果,各種設(shè)定狀態(tài)一目了然,交互式軟鍵大大簡(jiǎn)化了儀器操作。

非易失性存儲(chǔ)器以保存多種儀器設(shè)置

高頻自動(dòng)元件分析儀提供有內(nèi)部非易失性存儲(chǔ)器可保存20組儀器測(cè)量設(shè)置,

靈活的數(shù)據(jù)通訊方式

高頻自動(dòng)元件分析儀為多機(jī)通訊并組成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)提供了可能,同時(shí),

儀器還提供了低成本的RS232C串行通訊方式以方便地與計(jì)算機(jī)進(jìn)行遠(yuǎn)程通訊。

 

比較器功能

比較器

測(cè)量的參數(shù)值可以分選為10檔
測(cè)量得出的副參數(shù)也可以比較輸出IN/OUT信號(hào)

計(jì)數(shù)值

0—999999

列表掃描比較

掃描列表中的每個(gè)點(diǎn)都可以輸出HIGH/IN/LOW信號(hào)

輸入保護(hù)

當(dāng)充電的電容連上測(cè)試端時(shí),內(nèi)部保護(hù)電路工作。zui大可以保護(hù)的電容電壓可以由下式推出:
where:Vmax≤200VCisinFarads

其他功能

存儲(chǔ)功能

外部非易失存儲(chǔ)器可以保存20個(gè)儀器的設(shè)置文件

RS232C

所有的儀器控制參數(shù),測(cè)量值,比較值和掃描列表都可以通過RS232C實(shí)現(xiàn)多機(jī)通訊或?qū)C通訊。

選件

10301

功率放大/直流偏置增加交流信號(hào)到20Vrms/0.2Arms.擴(kuò)展直流偏置范圍到±40VDC.

10401

2m/4m測(cè)試線選件擴(kuò)展測(cè)試線的長(zhǎng)度,增加2m或4m。

10202

Handler接口輸入的9對(duì)上下限值可以分選10檔的L、C或|Z|值。
Handler提供與自動(dòng)分選機(jī)相連的接口。所有的信號(hào)都是單的。

準(zhǔn)確度(細(xì)節(jié)請(qǐng)查看操作手冊(cè))

測(cè)試環(huán)境

熱機(jī)時(shí)間

≥30分鐘

環(huán)境溫度

23±5ºC

測(cè)試信號(hào)電平

0.3Vrms–1Vrms

清零

開路和短路

測(cè)試線長(zhǎng)度

0m

|Z|,|Y|,L,C,R,X,G,B

±[A+(Ka+Kb+Kc)×100](%ofreading)
1.A是圖1和2中的基本準(zhǔn)確度因子
2.KaandKb是阻抗比例因子Ka用于阻抗低于500ΩKb用于阻抗高于500Ω.
3.Kc是差值校準(zhǔn)值.直接修正頻率時(shí)Kc=0其他頻率時(shí)Kc=0.0003
4.C,L,B測(cè)量時(shí)D≤0.1R,G測(cè)量時(shí)Q≤0.1

D

±[Ae/100](D的值)
當(dāng)A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100]

Q(WhenQx×De<0.1)

當(dāng),Qx符合Qvalue時(shí)De是D的度

θ

DEG

±[Ae/100](degress值)

RAD

±[(180/π)×(Ae/100)](degress值)

 

工作溫度:0℃—40℃

濕度≤90%RH

電源要求:198V—242VAC、99V-121VAC、47.5Hz—63Hz

功耗:≤100VA

尺寸(W×H×D):430mm×185mm×300mm

重量:8.5kgApprox

 

 

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