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產(chǎn)品簡介
的快速光譜輻射計(jì)。*美國IESNA和中國GB/T 24824等標(biāo)準(zhǔn)要求
詳細(xì)介紹
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產(chǎn)品概述詳細(xì)
產(chǎn)品概述
世界的快速光譜輻射計(jì)。*美國IESNA和中國GB/T 24824等標(biāo)準(zhǔn)要求。
可實(shí)現(xiàn)LED的瞬態(tài)光學(xué)特性測量（脈沖測量）及穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性測量（直流測量）。
國家863計(jì)劃研究成果，獲美國*（號(hào)：US 7,978,324 B2），“*批自主創(chuàng)新產(chǎn)品”，“國家重點(diǎn)新產(chǎn)品”榮譽(yù)。
技術(shù)參數(shù)
一、產(chǎn)品選型表：
規(guī)格 | UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | UV | VIS |
波長測量范圍 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm | 波長測量范圍 | 200-400nm |
光學(xué)帶寬 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm | 光學(xué)帶寬 | 1nm |
波長準(zhǔn)確度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm | 波長準(zhǔn)確度 | ±0.1nm |
二、基本工作原理：
世界*高精度快速光譜輻射計(jì)一般由凹面平均衍射光柵和科學(xué)級CCD構(gòu)成，世界上也只有極少數(shù)制造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實(shí)踐證明即便是世界*的商用凹面平場衍射光柵和世界*的商用科學(xué)級CCD，在系統(tǒng)光學(xué)耦合匹配方面仍存在一定不足，公司在高精度快速光譜儀方面積累了豐富經(jīng)驗(yàn)，改良了CCD與光柵的匹配設(shè)計(jì)，使整個(gè)系統(tǒng)的光學(xué)匹配更趨*，系統(tǒng)所獲得的光譜更純，線性更好。此外，公司采用*的雜散光控制技術(shù)、寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)、精密CCD電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和復(fù)變矩陣軟件技術(shù)，并成功應(yīng)用了帶通色輪校正技術(shù)（BWCT）、分光積分結(jié)合技術(shù)（SBCT），以及修正的NIST雜散光校正技術(shù)等多項(xiàng)技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了*的5.00E-05的極低雜散光水平（在A光源嚴(yán)格條件下）和0.3%的全動(dòng)態(tài)光度線性性能。關(guān)鍵技術(shù)指標(biāo)在處地位。
三、技術(shù)*性：
1、低雜散光
通過改良設(shè)計(jì)后高度匹配度的高精度光柵和科學(xué)級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術(shù)和修正的NIST雜散光校正技術(shù)，雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
2、寬線性動(dòng)態(tài)測量范圍
與普通陣列探測器相比，科學(xué)級陣列探測器具有更寬的線性動(dòng)態(tài)范圍，且光學(xué)匹配改造設(shè)計(jì)后，儀器的動(dòng)態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。此外，SBCT技術(shù)也大輻提高了線性動(dòng)態(tài)范圍。
3、快速
不僅可以測量光源的穩(wěn)態(tài)特性，而且可以測量它們瞬態(tài)光學(xué)特性，*符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。在儀器的靈敏度范圍內(nèi)，無論被測光的瞬態(tài)脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實(shí)現(xiàn)快速的全光譜測量。采用科學(xué)級陣列探測器代替機(jī)械掃描系統(tǒng)，可以在極短的測量時(shí)間內(nèi)（毫秒級）完整完成測量整個(gè)光譜范圍。
4、高精度
專為高精度應(yīng)用場合設(shè)計(jì)，通過對世界*商用科學(xué)級制冷型陣列探測器和精密光柵進(jìn)行改良設(shè)計(jì)，使其更加匹配，再配以精密的光學(xué)系統(tǒng)和電子線路，同時(shí)采用多項(xiàng)技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動(dòng)態(tài)范圍，從而實(shí)現(xiàn)測量的目的。
5、高重復(fù)性和穩(wěn)定性
儀器沒有機(jī)械運(yùn)動(dòng)的掃描機(jī)構(gòu)，*會(huì)產(chǎn)生隨環(huán)境變化的溫度因素也被恒溫制冷技術(shù)控制到了±0.05℃的水平，測量的重復(fù)性和穩(wěn)定性。
6、小巧
由于不含機(jī)械掃描裝置，設(shè)計(jì)精巧，無機(jī)械磨損，壽命極長，可靠性。設(shè)計(jì)輕巧，非常適合于需要便攜的應(yīng)用場合。
7、NIM和NIST 溯源
儀器可溯源至中國國家*（NIM）和美國NIST傳遞的標(biāo)準(zhǔn)，量值準(zhǔn)確度高。
8、光纖輸入
采用光纖輸入端，配置合適的光纖適配器以及相關(guān)附件后可以靈活的實(shí)現(xiàn)多種測量方案，這種靈活性使得不僅應(yīng)用在實(shí)驗(yàn)室和研究場合，也可應(yīng)用在質(zhì)量控制和生產(chǎn)線。
9、測量附件
廣泛的可選附件為應(yīng)用提供了方便。應(yīng)用領(lǐng)域包括普通電光源、LED、顯示屏等的光譜輻射度色度和光度測量以及光譜反射/透射測量。幾乎所有的附件都由公司自行設(shè)計(jì)和生產(chǎn)制造，所以不存在不兼容的問題。
10、高靈敏度
經(jīng)系統(tǒng)匹配改造設(shè)計(jì)的采用光柵和HAMAMATSU TE-制冷陳列探測器，使得儀器的靈敏度。
11、關(guān)鍵部件：陣列探測器
中所使用的科學(xué)級高靈敏度陣列探測器與普通相比，成本要貴近100倍，它具有如下特性：
TE制冷： 內(nèi)置TE制冷器，可以降低被照射的探測器芯片的溫度，該項(xiàng)技術(shù)可以將動(dòng)態(tài)范圍提高一個(gè)數(shù)量級，并且降低暗噪聲。
背照式：光子不需要穿到芯片的深處，這使得它的靈敏度比傳統(tǒng)前照式高一個(gè)數(shù)量級。
宏模式：在同一列的象素點(diǎn)累加。通過宏操作，二維陣列探測器作為探測口徑較長的一維線性光電探測器使用，明顯提高了信噪比和信號(hào)處理速度。
低噪聲，寬動(dòng)態(tài)，穩(wěn)定度較好的高UV響應(yīng)。
三、主要技術(shù)指標(biāo)：
光學(xué)平臺(tái) | |
光柵 | 全息平場凹面衍射光柵 |
狹縫寬度 | 100μm （標(biāo)準(zhǔn)） |
光輸入 | 光纖 |
多色儀 | |
波長測量范圍 | 380-780nm （標(biāo)準(zhǔn)） |
光學(xué)帶寬 | 2.0nm |
波長準(zhǔn)確度 | ±0.3nm |
雜散光（A光源） | 2.00E-04 / 5.00E-051） |
色度參數(shù) | |
色坐標(biāo)準(zhǔn)確度（x,y） | ±0.00151） |
色坐標(biāo)（x,y）重復(fù)性 | ±0.00015x，±0.0002y （藍(lán)光 LED） |
電參賽 | |
A/D轉(zhuǎn)換器 | 16 bits /1.25MHz |
通訊接口 | USB2.0/RS-232 |
積分時(shí)間 | 9ms-60s |
光度量 | |
光度線性 | ±0.3%2） |
重復(fù)性 | ±0.2% |
光強(qiáng)靈敏度 | 0.01mcd |
準(zhǔn)確度 | ±1% 3） |
1）應(yīng)用BWCT技術(shù)；
2）應(yīng)用SBCT技術(shù)；
3）不計(jì)源自標(biāo)準(zhǔn)燈的不確定度，公司可提供客戶高精度但低價(jià)格的標(biāo)準(zhǔn)燈系統(tǒng)。