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產(chǎn)品簡介
半導(dǎo)體電阻率型號綜合測試儀是專用于各種半導(dǎo)體材料包括片狀硅料、硅晶體等的型號和電阻率測定的設(shè)備,測定范圍:0.01-199.99Ωcm，是生產(chǎn)廠家硅料分選測試的理想工具。
詳細(xì)介紹
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產(chǎn)品概述詳細(xì)
詳細(xì)資料：
半導(dǎo)體電阻率型號綜合測試儀是于各種半導(dǎo)體材料包括片狀硅料、硅晶體等的型號和電阻率測定的設(shè)備,測定范圍:0.01-199.99Ωcm，是生產(chǎn)廠家硅料分選測試的理想工具。
一．1.電阻率主要技術(shù)指標(biāo):
可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm
恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。
數(shù)字電壓表：輸入信號量程：0～200mV,zui大分辨率：100μV
電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點(diǎn)、極性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米
輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω
測量精度：±5%。
zui大電阻測量誤差（按JJG508-87進(jìn)行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個(gè)字。
重?fù)綑z測誤差（JJG508-87進(jìn)行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%
測量環(huán)境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%
2、操作程序：
1、先連好電源，打開后面板電源開關(guān)，電源指示燈亮，表示待機(jī)完畢。
2、校準(zhǔn)設(shè)備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的任一標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)電阻率測試儀
3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準(zhǔn)，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可，
4校驗(yàn)：在測試過程中要求2小時(shí)用標(biāo)準(zhǔn)樣塊校準(zhǔn)一次設(shè)備，
3、針組件;維護(hù)及注意事項(xiàng):
1、一般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外,針的維護(hù)主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔工作
2、維護(hù)后的安裝及維護(hù)過程中,須注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列。
二、P/N型號判別功能:
1．判別半導(dǎo)體硅材料導(dǎo)電類型（P/N）；
2．準(zhǔn)確判定電阻率為0.1Ω.cm和0.5Ω.cm以下的重?fù)焦枇希?/p>
使用與操作說明：
1.面板功能
儀器面板主要由導(dǎo)電類型字符（P/N）數(shù)碼顯示，重?fù)綑n位選擇開關(guān)及其聲訊指示，電源指示和探測信號輸入輸出組件。
2.操作步驟
先連接好電源，打開后面板電源開關(guān)，紅色指示燈顯示，表示待機(jī)完畢。接著進(jìn)行重?fù)綑n位設(shè)定：如果選擇開關(guān)設(shè)置I檔表示檢測硅料電阻率為0.1Ω.cm以下的重?fù)?；以重?fù)綐訅K檢測，此時(shí)紅色指示燈應(yīng)點(diǎn)亮，同時(shí)蜂鳴報(bào)警指示。如果選擇開關(guān)設(shè)置于Ⅱ檔表示檢測硅料電阻率為0.5Ω.cm以下的重?fù)?；以重?fù)綐訅K檢測，此時(shí)紅色指示燈應(yīng)點(diǎn)亮，同時(shí)蜂鳴器報(bào)警指示。
3.功能識別
本儀器采用的LED數(shù)碼管顯示，既可以直觀的指示待測硅料型號，又可以對其電阻率大小進(jìn)行錯率的界定。
4.注意事項(xiàng)
在判別過程中測試速度和頻次不宜過高，同時(shí)盡量保持探頭與料塊垂直，以探針良好接觸料塊后的穩(wěn)定顯示字符為準(zhǔn)。