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中國(guó)臺(tái)灣嘉仕（KRASS）區(qū)域總代理 7100系列交直流耐壓/絕緣測(cè)試儀
中國(guó)臺(tái)灣嘉仕（KRASS）7120交直流耐壓測(cè)試儀
一．中國(guó)臺(tái)灣嘉仕（KRASS）7120交直流耐壓測(cè)試儀型號(hào)功能對(duì)照表：
| 型號(hào) | 功 能 說 明 |
| 7122 | 交直流耐壓/絕緣測(cè)試儀（AC/DC Withstand Voltage/Insulation Tester） |
| 7120 | 交直流耐壓測(cè)試儀（AC/DC Withstand Voltage Tester） |
| 7112 | 交流耐壓/絕緣測(cè)試儀（AC Withstand Voltage/Insulation Tester） |
| 7110 | 交流耐壓測(cè)試儀（AC Withstand Voltage Tester） |
二．中國(guó)臺(tái)灣嘉仕（KRASS）7120交直流耐壓測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
| 功能/型號(hào) | 7122 | 7120 | 7112 | 7110 |
| 輸入特性 | 單相47～63HZ，115V/230V AC±15%可選擇 | |||
| 交流耐壓測(cè)試 | 額定輸出：5KV AC,AC12mA | |||
| 輸出頻率 | 范圍：50HZ/60Hz可選擇 | |||
| 輸出波形 | 正弦波THD＜2%，波峰因數(shù)（Crest Factor）＞1.3＜1.5 | |||
| 上限設(shè)定 | 范圍：0.10~12.00mA 解析度：0.01mA/Step 精密度：±（2%設(shè)定值+2Counts）* | |||
| 下限設(shè)定 | 范圍：0.00 ~12.00mA 解析度：0.01mA/Step 精密度：±（2%設(shè)定值+2Counts）* | |||
| 直流耐壓測(cè)試 | 額定輸出：6KV DC 5mA | 不提供 | ||
| 紋波 | ＜5%在6KV/5mA電阻負(fù)載下測(cè)量 | | ||
| 上限設(shè)定 | 范圍：0.02~5.00mA 解析度：0.01mA/Step 精密度：±（2%設(shè)定值+2Counts）** | | ||
| 下限設(shè)定 | 范圍：0.00 ~5.00mA 解析度：0.01mA/Step 精密度：±（2%設(shè)定值+2Counts）** | | ||
| 電壓設(shè)定（AC/DC） | 范圍：AC0.00～5.00KV DC0.00～6.00KV 解析度：10V/Step 精密度：±（2%設(shè)定值+5V） | |||
| 電壓穩(wěn)壓率 | ±（1%設(shè)定值+5V）空載至滿載 | |||
| 緩升時(shí)間 | 范圍：0.1~999.9s，0.1s/ Step | |||
| 測(cè)試時(shí)間 | 范圍：0.2～999.9S，0.1S/ Step（0=連續(xù)測(cè)試） | |||
| 電弧偵測(cè) | 范圍：1-9級(jí)可設(shè)定 | |||
| 電壓表（AC/DC） | 范圍：0.00～5.00/6.00KV 解析度：0.01kV/Step 精密度：±（2%讀值+1Counts） | |||
| 電流表（AC/DC） | 范圍：0.00～12.00/6.00 mA 解析度：0.01mA/Step 精密度：±（2%讀值+1Counts） | |||
| 自動(dòng)放電 | 放電時(shí)間在200mszui大放電容量 0.2μF時(shí)輸入電壓≤1kV 0.1μF時(shí)輸入電壓≤2kV 0.05μF時(shí)輸入電壓≤4kV 0.04μF時(shí)輸入電壓≤5 kV 0.015μF時(shí)輸入電壓≤6 kV | 不提供 | ||
注 ：*精密度范圍在0-11m A AC之間。
**精密度范圍在0-4m A DC之間。
**精密度范圍在0-4m A DC之間。
三．中國(guó)臺(tái)灣嘉仕（KRASS）7120交直流耐壓測(cè)試儀絕緣電阻測(cè)試參數(shù)：
| 絕緣電阻測(cè)試 | 僅7122/7112機(jī)型具有此項(xiàng)功能 |
| 輸出電壓設(shè)定 | 范圍：0.10～1.00KV DC 解析度：0.1 kV /Step 精密度：±（2%設(shè)定值+2V） |
| 電壓顯示 | 范圍：0.00～1.00KV 解析度：0.01 kV /Step 精密度：±（2%讀值+1Counts） |
| 高阻顯示 | 范圍：1～1000MΩ 精密度：±（5%讀值+2Counts）在電壓≥500VDC ±（7%讀值+2Counts）在電壓＜500VDC |
| 測(cè)試時(shí)間 | 范圍：0.5～999.9S，0=連續(xù)測(cè)試 解析度：0.1S/ Step |
| 上限設(shè)定 | 范圍：1～1000MΩ 解析度：1MΩ/ Step 精密度：±（5%讀值+2Counts）在電壓≥500VDC ±（7%讀值+2Counts）在電壓＜500VDC |
| 下限設(shè)定 | 范圍：1～1000MΩ 解析度：1MΩ/ Step 精密度：±（5%讀值+2Counts）在電壓≥500VDC ±（7%讀值+2Counts）在電壓＜500VDC |
