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聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)

聯(lián)訊儀器提供的測(cè)試設(shè)備需要支持如下TO 產(chǎn)品的LIV 與光譜測(cè)試，詳細(xì)功能包括：
- 支持TO 的LIV 掃描相關(guān)參數(shù)計(jì)算和算法選擇
- 支持中心波長(zhǎng)和SMSR 測(cè)試，是否跳模判斷（多電流點(diǎn)光譜測(cè)試法）.
- 支持LIV 和光譜并行測(cè)試
- Ith 重復(fù)性高溫<2%，常溫<3%低溫<5%.
- 支持測(cè)試溫度范圍-40~95 度.
- 支持雙溫區(qū)。
- 支持測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判斷.
- 可以按照客戶的要求開(kāi)發(fā)MES 功能

聯(lián)訊TO6200低溫測(cè)試系統(tǒng)

支持TO 與夾具槽位的綁定關(guān)系.
- 兼容同一封裝TO 的不同管腳定義軟件切換
- 不同封裝TO 需要更換夾具，每個(gè)夾具160pcs TO.
- 可定制開(kāi)發(fā)使用客戶選定TO 夾具（夾具必須有熱沉組件保證熱沉與TO 良好傳熱）.
- 需要氮?dú)饨尤氤?
- 滿足客戶EOS、ESD 防護(hù)以及EHS 要求.