IOL間歇壽命試驗系統(tǒng)HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續(xù)工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng) 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環(huán)試驗系統(tǒng)華科智源-功率循環(huán)老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...
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