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國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):國(guó)產(chǎn)飛納 ProX
加快材料研究的突破性進(jìn)展,您的實(shí)驗(yàn)室需要一臺(tái)具備快速準(zhǔn)確分析大量材料微觀結(jié)構(gòu)的掃描電鏡。第六代 Phenom ProX 國(guó)產(chǎn)型號(hào)飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)引入了...
型號(hào): 國(guó)產(chǎn)飛納 ProX
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
電鏡能譜一體機(jī)掃描電鏡臺(tái)式電鏡臺(tái)式掃描電鏡桌面掃描電鏡
2025/6/16 11:25:4848
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Femto3D Atlas 聲光三維雙光子顯微鏡
參考價(jià): 面議
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型號(hào):
Femtonics是一家總部位于匈牙利布達(dá)佩斯的公司,專注于腦科學(xué)研究,發(fā)表超過200篇頂級(jí)期刊出版物。其明星產(chǎn)品Femto3D Atlas 聲光三維雙光子顯微...
雙光子雙光子成像雙光子顯微鏡鈣成像電生理
2025/6/11 17:56:18146
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Femto Smart 定制化多光子顯微鏡
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
Femtonics,總部位于匈牙利布達(dá)佩斯,專注于腦科學(xué)領(lǐng)域,發(fā)表超過200篇高水平研究成果。其Femto Smart 定制化多光子顯微鏡以其模塊化設(shè)計(jì)、高靈活...
雙光子三光子多光子鈣成像
2025/6/11 17:55:55107
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掩膜版|保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
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型號(hào):FM-PR-PDS
掩膜版|保護(hù)膜表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)(PDS)為掩膜版、掩膜版保護(hù)膜以及基板(襯底)制造工藝,提供高通量的表面顆粒污染檢測(cè)服務(wù)。 該系統(tǒng)對(duì)粒徑大于 0.1...
型號(hào): FM-PR-PDS
品牌:Fastmicro所在地:上海市
對(duì)比
顆粒檢測(cè)
2025/6/3 14:04:02156
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晶圓表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)(PDS)
參考價(jià): 面議
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型號(hào):FM-W-PDS
Fastmicro 晶圓表面顆粒物快速檢測(cè)系統(tǒng)(PDS),專為各行業(yè)產(chǎn)品表面顆粒污染物直接測(cè)量而設(shè)計(jì),主要應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域的晶圓、薄膜及光罩檢測(cè),也可用于顯示市...
型號(hào): FM-W-PDS
品牌:Fastmicro所在地:上海市
對(duì)比
顆粒檢測(cè)
2025/6/3 13:58:13149
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儀器表面顆粒物分析儀
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):FM-PS-SAS-V01
Fastmicro 儀器表面顆粒物分析儀,是一款基于“膠帶粘取"采樣技術(shù)的表面污染檢測(cè)工具,可通過間接測(cè)量方式識(shí)別小至 0.5um 的顆粒污染物。其配備的專用 ...
型號(hào): FM-PS-SAS...
品牌:Fastmicro所在地:上海市
對(duì)比
顆粒檢測(cè)
2025/6/3 13:52:40120
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環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀(PFS)
參考價(jià): 面議
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型號(hào):FM-PS-PFS-V02
Fastmicro 環(huán)境落塵顆粒實(shí)時(shí)監(jiān)控儀(PFS),專為潔凈室顆粒沉積速率測(cè)量而研發(fā),支持秒級(jí)間隔的數(shù)據(jù)采集,精準(zhǔn)測(cè)量 0.5 um 以上顆粒。結(jié)合直觀易用的...
型號(hào): FM-PS-PFS...
品牌:Fastmicro所在地:上海市
對(duì)比
顆粒檢測(cè)
2025/6/3 13:43:42141
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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)
參考價(jià): 面議
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型號(hào):LiteScope
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)SEM 與 AFM 是亞納米級(jí)樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補(bǔ)的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)超高...
型號(hào): LiteScope
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
SEM-AFM聯(lián)用掃描電鏡原子力顯微鏡
2025/5/27 14:44:42222
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臺(tái)式大倉(cāng)顯微CT
參考價(jià): 面議
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型號(hào):Neoscan NXL
NEOSCAN NXL 臺(tái)式大倉(cāng)顯微 CT 是一款專為大尺寸、高密度物體設(shè)計(jì)的高性能臺(tái)式顯微 CT 掃描儀,搭載強(qiáng)大的150 kV / 75 W微焦點(diǎn)X射線源與...
型號(hào): Neoscan ...
品牌:Neoscan所在地:上海市
對(duì)比
顯微CT無損檢測(cè)X射線成像micro ct工業(yè)CT
2025/5/20 17:32:12421
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「新」AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)
參考價(jià): 面議
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型號(hào):AFM-in-Phenom XL
全新發(fā)布的 AFM-in-Phenom XL 「新」AFM-SEM原子力掃描電鏡一體機(jī)結(jié)合了掃描電子顯微鏡 (SEM) 和原子力顯微鏡 (AFM) 的優(yōu)勢(shì),實(shí)現(xiàn)...
型號(hào): AFM-in-Ph...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
原子力顯微鏡AFM原子力顯微鏡掃描電鏡SEM AFM聯(lián)用
2024/12/19 16:47:12923
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大面積圖像拼接
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Phenom MAPS
Phenom MAPS 大面積圖像拼接作為一款多模態(tài)多維度地圖式圖像自動(dòng)采集及拼接軟件,可自動(dòng)獲取大型圖像數(shù)據(jù)集,并直觀地組合和關(guān)聯(lián)多種成像、分析模式,從而提供...
型號(hào): Phenom MA...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
大面積圖像拼接飛納電鏡
2024/11/1 14:44:021014
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飛納電鏡彩色成像技術(shù)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):ChemiSEM
飛納電鏡彩色成像技術(shù) ChemiSEM,將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡(jiǎn)化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟...
型號(hào): ChemiSEM
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
掃描電鏡彩色成像技術(shù)ChemiSEM
2024/10/30 11:21:01990
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飛納電鏡全景拼圖【新品】
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Automated Image Mapping
飛納電鏡全景拼圖【新品】 Automated Image Mapping 全新界面,一鍵掃描更便捷 掃描“形狀"自定義 大樣品全景觀測(cè) 高清圖像無錯(cuò)位
型號(hào): Automated...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
飛納電鏡全景拼圖
2024/10/29 10:08:57960
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飛納電鏡物相分析軟件
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):ChemiPhase
適用金屬和礦物研究—ChemiPhase飛納電鏡物相分析軟件
更容易,更全面,更準(zhǔn)確的物相分析
型號(hào): ChemiPhas...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
掃描電鏡物相分析軟件
2024/10/28 16:01:271064
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Neoscan N90 高分辨納米CT
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):N90 納米CT
Neoscan 重磅推出了 N90臺(tái)式納米CT系統(tǒng),將復(fù)雜的納米斷層掃描技術(shù)帶到了桌面!40nm 超高分辨率,可選配集成的XRF系統(tǒng),還具備出色的用戶友好性,打...
型號(hào): N90 納米CT
品牌:Neoscan所在地:上海市
對(duì)比
Neoscan無損檢測(cè)nano-ctX射線成像micro ct
2024/10/23 13:45:121235
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離子研磨儀 SEM樣品制備
參考價(jià): 面議
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型號(hào):SEMPREP SMART
離子研磨儀 SEM樣品制備配備了高能量和可選的低能量氬離子槍。這款設(shè)備是用于掃描電子顯微鏡(SEM)和電子背散射衍射(EBSD)樣品的最終加工和清潔的理想選擇。
型號(hào): SEMPREP S...
品牌:Technoorg Linda所在地:上海市
對(duì)比
離子研磨儀氬離子拋光機(jī)
2024/6/14 14:29:351681
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TEM樣品制備 精修離子束系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):GIB
TEM樣品制備 精修離子束系統(tǒng)的低能氬離子槍(GIB) 適用于表面減薄、其他表面處理后的后處理、清潔以及去除無定形和氧 化物表面層。 當(dāng)?shù)湍軞咫x子槍集成到掃描電...
型號(hào): GIB
品牌:Technoorg Linda所在地:上海市
對(duì)比
精修離子束離子精修TEM樣品
2024/6/14 14:22:101726
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飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Phenom GSR
飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺(tái)式掃描電鏡運(yùn)行自動(dòng)射擊殘留物分析軟件。其設(shè)計(jì)基于飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高...
型號(hào): Phenom GS...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
掃描電鏡GSR槍擊殘留物槍擊殘留物分析槍擊殘留物檢測(cè)
2024/2/29 10:41:005975
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臺(tái)式電鏡廠家
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):U 中心樣品杯
在許多掃描電鏡應(yīng)用中,如果樣品可以傾斜、旋轉(zhuǎn),用戶就可以得到更豐富的形貌特征。飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 的優(yōu)中心樣品杯就是基于這一目的來研...
型號(hào): U 中心樣品杯
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
臺(tái)式掃描電鏡臺(tái)式電鏡廠家桌面式掃描電鏡飛納電鏡優(yōu)中心樣品杯優(yōu)中心樣品杯
2024/1/30 15:18:255259
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高分辨率臺(tái)式掃描電鏡
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):Phenom Pro
高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是一款使用高亮度 CeB6 燈絲的高分辨臺(tái)式掃描電鏡。放大倍數(shù) 350,000 倍,用于觀察納米或者亞微米樣品的微觀結(jié)構(gòu)。
型號(hào): Phenom Pr...
品牌:Phenom/飛納電鏡所在地:上海市
對(duì)比
臺(tái)式電鏡 Pro掃描電鏡專業(yè)版 Pro飛納電鏡高分辨率 Pro高分辨率臺(tái)式電鏡臺(tái)式掃描電鏡價(jià)格
2024/1/30 15:15:599573
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飛納電鏡編程界面 (PPI)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
如果用戶想把飛納電鏡整合到產(chǎn)品工藝中或者創(chuàng)建一個(gè)定制的解決方案,飛納電鏡編程界面 (PPI) 是不可或(huo)缺(que)的。 基于開放標(biāo)準(zhǔn),借助 PPI 可...
掃描電鏡PPI接口
2024/1/2 15:00:182721
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纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
纖維統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng) (FiberMetric) 可以自動(dòng)測(cè)量從納米到亞微米量級(jí)的纖維,數(shù)秒之內(nèi)采集數(shù)百纖維的直徑信息,每個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)均經(jīng)過 50 次測(cè)量取平均值。...
掃描電鏡纖維統(tǒng)計(jì)分析
2024/1/2 14:50:294218
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3D 粗糙度重建系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
通過 3D 粗糙度重建系統(tǒng)軟件,飛納臺(tái)式掃描電鏡能夠產(chǎn)生二維圖像和進(jìn)行亞微米粗精度測(cè)量從一個(gè) 2D 平面圖像里區(qū)分凹痕,劃痕,毛刺等通常很閑難。3D 圖像直觀,...
掃描電鏡粗糙度重建
2024/1/2 14:46:234262
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顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
參考價(jià): 面議
參考價(jià): 面議
型號(hào):
顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)軟件可以輕松獲取、分析圖片并生成報(bào)告。借助該軟件,用戶可以收集到大量亞微米顆粒的形貌和粒徑數(shù)據(jù)。憑借遠(yuǎn)超光鏡的放大倍數(shù),顆粒軟件全自動(dòng)化的測(cè)...
掃描電鏡顆粒統(tǒng)計(jì)分析
2024/1/2 14:40:514245