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2024
07-082024
07-052024
07-04顯微 CT 技術(shù)在農(nóng)業(yè)領(lǐng)域中的應用
近年來，隨著前沿生物技術(shù)的發(fā)展和精密儀器的引入，農(nóng)業(yè)領(lǐng)域的研究取得了許多突破性進展和成果。顯微CT技術(shù)以X射線成像為原理，為研究人員提供了一種強大的工具，能夠深入探究農(nóng)作物、植物和土壤的微觀世界，為農(nóng)...2024
07-02飛納掃描電鏡超景深成像模式，輕松看到樣品的全部細節(jié)
掃描電鏡作為一種基礎(chǔ)顯微成像工具，因具有超高的放大能力，從而被高校、科研院所、材料研發(fā)和質(zhì)量分析部門廣泛用于研發(fā)、生產(chǎn)過程。相比于光學放大器件，掃描電子顯微鏡使用電子束進行成像，放大、分辨能力比光學顯...2024
07-01掃描電鏡優(yōu)秀論文賞析｜飛納臺式掃描電鏡電極材料上的應用
掃描電鏡優(yōu)秀論文賞析｜基于強p-p堆積效應的具有大內(nèi)置電場的層堆積聚酰亞胺用于快速鋰離子存儲海南大學材料科學與工程學院陳文參賽論文：Layerstackedpolyimidewithgreatbuil...2024
06-272024
06-27如何讓您的鋰電池發(fā)揮更大效能？試試先進原子層沉積(ALD)技術(shù)！
如何讓您的鋰電池發(fā)揮更大效能？試試先進原子層沉積(ALD)技術(shù)！當今世界正處于轉(zhuǎn)變期，全力邁向電動社會——一個節(jié)能減排、實現(xiàn)氣候目標并抵御嚴峻氣候變化的社會。為了實現(xiàn)這一轉(zhuǎn)變，我們需要新的材料和技術(shù)，...2024
06-25高分辨率臺式掃描電鏡的優(yōu)勢特點體現(xiàn)在哪里？
高分辨率臺式掃描電鏡的分辨率主要由電子束的直徑和探測器的靈敏度決定。電子束的直徑越小，分辨率越高。而電子束的直徑又由電子槍的性能和電磁透鏡的質(zhì)量決定。探測器的靈敏度越高，能夠檢測到的信號電子就越多，分...2024
06-21AI 臨近？加速電催化劑篩選的高通量納米沉積系統(tǒng)
AI臨近？加速電催化劑篩選的高通量納米沉積系統(tǒng)引言堿性水電解作為一種重要的電化學反應，可作為大規(guī)模產(chǎn)生氫氣的可行候選方式（僅次于質(zhì)子交換膜）。通過對水電解催化劑進行篩選，可制備與傳統(tǒng)方式相比更為高效的...2024
06-202024
06-19臺式機大小，這款臺式掃描電鏡卻能幫你發(fā) Nature
高分辨率飛納臺式掃描電鏡它的最大魅力就是僅需一杯咖啡功夫的培訓，人人都可以拍攝出最高1.5nm的高分辨率電鏡照片掃描電鏡，也被很多人成為材料分析的三大件之一，是科研或研發(fā)工作中非常普遍的設(shè)備之一。但是...2024
06-172024
06-122024
06-112024
06-07設(shè)備更新|粉末原子層沉積（PALD）：科研平臺建設(shè)“新質(zhì)生產(chǎn)力”
設(shè)備更新|粉末原子層沉積（PALD）：科研平臺建設(shè)“新質(zhì)生產(chǎn)力”隨著對科技創(chuàng)新的不斷重視和投入，新一輪的大規(guī)模設(shè)備以舊換政策為廣大高校和研究機構(gòu)帶來了的發(fā)展機遇。高質(zhì)量的科研平臺建設(shè)是提升研究水平、增...2024
06-06掃描電鏡拍攝技巧（一）｜如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現(xiàn)象
掃描電鏡拍攝技巧｜如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現(xiàn)象在使用掃描電鏡進行樣品觀察時，尤其是采用二次電子模式，隨著觀察時間的延長，在觀察的區(qū)域會出現(xiàn)一塊黑的矩形的區(qū)域。如下圖所示，對一塊空白的鋁制樣品臺...2024
06-05設(shè)備更新｜掃描電鏡 SEM & 透射電鏡 TEM 離子束制樣設(shè)備
設(shè)備更新｜掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設(shè)備2024年3月1日，《推動大規(guī)模設(shè)備更新和消費品以舊換新行動方案》審議通過。會議指出，推動新一輪大規(guī)模設(shè)備更新和消費品以舊換新，是著眼于我國高質(zhì)量...2024
06-032024
05-31原子層沉積（ALD）技術(shù)鋰電材料：電極粉末包覆的必要性（下）
在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。（詳見：原子層沉積（ALD）技術(shù)在鋰電材料中的應用（一）：電極粉末包覆的必...2024
05-29使用低能離子精修制備高質(zhì)量的鋰離子導體固態(tài)電解質(zhì)透射電鏡樣品
引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅(qū)散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質(zhì)量的TEM照片，進而也限制了對輕元...請輸入賬號
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