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JSM-7900F臺式掃描電鏡PX 2672
JSM-IT500JSM-IT500 鎢燈絲掃描電子顯微鏡PX 2672
JCM-7000臺式電鏡SEMPX 2672
JSM-7200F高速分析熱場發(fā)射電鏡PX 2672
JSM-IT200鎢燈絲電鏡PX 2672
JSM-7900F超高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡PX 2672
JCM-7000臺式掃描電子顯微鏡PX 2672
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺PX 3560
電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統原位解決方案PX 3560
電鏡原位液體-電化學測量系統原位解決方案PX 3560
原位解決方案——光電力一體化系統PX 3560
SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統PX 3560
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統PX 3560
SEM原位解決方案——納米探針臺PX 3560
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡PX 3560
ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機PX 3560
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡PX 3560
ZEM18臺式掃描電鏡PX 3560
ZEM20臺式掃描電鏡PX 3560
SU8600日本日立冷場發(fā)射掃描電鏡SEMPX 2268
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡PX 3683
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡PX 3683
Axia ChemiSEM掃描電鏡PX 3683
賽默飛Talos L120C TEM透射電子顯微鏡PX 3683
賽默飛(原FEI)Volumescope 2 sem掃描電鏡PX 3683
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡PX 3683
Aquilos 2 Cryo-FIB賽默飛冷凍聚焦離子束顯微鏡PX 3683
Verios XHR SEM賽默飛 原FEI掃描電鏡PX 3683
賽默飛(原FEI)Quattro 進口掃描電鏡PX 3683
賽默飛(原FEI)Apreo場發(fā)射掃描電子顯微鏡PX 3683
Prisma E sem掃描電子顯微鏡PX 3683
賽默飛Scios DualBeam 雙束電子顯微鏡PX 3683
Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡PX 3683
SEM5000場發(fā)射掃描電子顯微鏡簡介PX 6232
德國蔡司ZEISS鎢燈絲掃描電鏡PX 3242
Sigma 系列德國蔡司掃描電鏡PX 3242
鎢燈絲-蔡司掃描電鏡EVO系列PX 2545
SEM-蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡 Gemini系列PX 2545
MultiSEM 505多束電鏡-蔡司MultiSEM SeriesPX 2545
Cube Ⅱ科特臺式掃描電鏡PX 0
光學顯微鏡
電子顯微鏡
光學測量儀
光學實驗設備
光學成像設備
國產型號飛納臺式掃描電鏡能譜一體機
高襯度掃描電子顯微鏡
桌面臺式掃描電子電鏡
高倍數成像掃描電鏡
國儀量子SEM2100鎢燈絲掃描電鏡
國儀量子SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡
國儀量子SEM3300鎢燈絲掃描電鏡
國儀量子SEM4000X場發(fā)射掃描電鏡
熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡
通用型場發(fā)射掃描電子顯微鏡
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡
AFM/SEM二合一顯微鏡
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賽默飛色譜及質譜
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