膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm）
- 公司名稱 上海昊量光電設備有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產(chǎn)地 國外
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/4/12 11:32:48
- 訪問次數(shù) 46
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上海昊量光電設備有限公司
Aunion Tech Co., Ltd
專業(yè)源自專注 專注成就未來
自2008年成立以來，昊量光電專注于光電領域的技術服務與產(chǎn)品經(jīng)銷，致力于引進guo外*先進性與創(chuàng)新性的光電技術與可靠產(chǎn)品，為國內(nèi)Z前沿的科研與工業(yè)領域提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務，助力中國智造與中國創(chuàng)造! 目前，昊量光電已經(jīng)與來自美國、歐洲、日本的多家光電產(chǎn)品制造商建立了緊密的合作關系。其代理品牌均處于相關領域的發(fā)展前沿，產(chǎn)品包括各類激光器、光電調(diào)制器、光學測量設備、精密光學元件等，所涉足的領域涵蓋了材料加工、光通訊、生物醫(yī)療、科學研究與國防等。
昊量光電堅持“專業(yè)源自專注，專注成就未來”的經(jīng)營理念。近年來，我們專注于前沿的細分市場，為量子光學、生物顯微、物聯(lián)傳感、精密加工、先進激光制造等領域的客戶提供系統(tǒng)解決方案。
作為一家以技術溝通與技術服務見長的高科技企業(yè)，我們所有的銷售與技術服務團隊成員都具有理工科方面的專業(yè)背景，并在公司接受相關領域的專業(yè)培訓，在售前技術溝通、售后產(chǎn)品安裝培訓、產(chǎn)品問題解決、軟硬件增值服務等方面為客戶提供更加專業(yè)化的服務！我們專業(yè)高效的商務與物流部門憑借多年積累的貿(mào)易經(jīng)驗與規(guī)范化的制度流程，保障每一筆訂貨準時安全到達目的地，免除客戶的后顧之憂！
秉承誠信、高效、創(chuàng)新、共贏的核心價值觀，昊量光電堅持以誠信為基石，憑借高效的運營機制和勇于創(chuàng)新的探索精神為我們的客戶與與合作伙伴不斷創(chuàng)造價值，實現(xiàn)各方共贏！
立足于光電產(chǎn)業(yè)，昊量光電始終堅持價值創(chuàng)造與創(chuàng)新，贏得客戶與合作伙伴的認可，不斷拓展業(yè)務領域的新邊疆，立志打造的代理服務品牌！
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 |
美國Filmetrics膜厚測量儀
使用 Filmetrics 膜厚測量儀產(chǎn)品，只需單擊鼠標即可測量 1nm 至 10mm 的薄膜厚度。幾乎可以測量任何材料，直觀的設計意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進行一次薄膜厚度測量！
Filmetrics 膜厚測量儀通過分析光如何被薄膜反射來測量薄膜厚度。通過分析超出人眼可見波長的波長，F(xiàn)ilmetrics 膜厚測量儀可以測量幾乎所有厚度大于 100 個原子的非金屬薄膜。而且由于沒有移動部件，因此可以在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)果：薄膜厚度、折射率，甚至粗糙度！
越來越多的公司依靠 Filmetrics 膜厚測量儀進行經(jīng)濟實惠的薄膜厚度測量。手機、眼鏡、液晶顯示器和數(shù)百種其他產(chǎn)品的制造商都非常欣賞我們的設備易于使用、成本更低，并且提供無與的倫比的支持。事實上，我們的客戶每天都在向我們展示我們的薄膜厚度測量工具的新用途！
Filmetrics 膜厚測量儀-測量厚度從 1nm 到 10mm 的膜厚測量系統(tǒng)
Filmetrics 是通用的薄膜厚度測量儀器，在有數(shù)千種應用。厚度和折光率可在不到一秒的時間內(nèi)測量。與我們所有的厚度測量儀器一樣，F(xiàn)20 可連接到 Windows™ 計算機的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設置。不同的 F20 儀器主要根據(jù)波長范圍進行區(qū)分。標準 F20 是 Filmetrics 非常受歡迎的產(chǎn)品。通常，較薄的薄膜需要較短的波長（例如 F20-UV），而較長的波長允許測量較厚、較粗糙和更不透明的薄膜。
膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm）包括什么配件？
集成光譜儀/光源單元
FILMeasure 5.0 軟件
具有多位置聚焦的 SS-3 樣品臺
光纜
參考資料
厚度標準
作手冊的硬拷貝
連接電纜
FILMeasure 獨立軟件（用于遠程數(shù)據(jù)分析）
備用燈
鑷子
膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm）測試原理：
當波長范圍的光照射到薄膜上時，從不同界面上反射的光相位不同，從而引起干涉導致強度相長或相消。而這種強度的振蕩是與薄膜的結(jié)構(gòu)相關的。通過對這種振蕩擬合和傅里葉變換就可獲得樣品厚度和相關的光學常數(shù)。
比如：
半導體（硅，單晶硅，多晶硅）
半導體化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微電子機械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻膠
硬涂層（碳化硅，類金剛石炭）
聚合物涂層（聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
Filmetrics 膜厚測量儀分類：
| 1、單點膜厚測量——F20 |  |
| 2、單點手持膜厚測量——F10-HC |  |
| 3、聚焦光斑膜厚測量儀——F40 |  |
4、支持Mapping的聚焦膜厚測量儀——F50 |  |
| 5、在線膜厚測量儀——F30 |  |
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