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徠卡顯微系統(tǒng)(上海)貿(mào)易有限公司

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DM6 M 徠卡清潔度顯微鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 迪合光電科技(上海)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) DM6 M
  • 產(chǎn)地 上海
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2023/3/29 13:32:54
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 1271

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  迪合光電科技(上海)有限公司是LEICA光學(xué)儀器在江,浙,滬工業(yè)區(qū)域的徠卡顯微鏡總代理,以經(jīng)營(yíng)、開(kāi)發(fā)、應(yīng)用、服務(wù)于一體的上海自貿(mào)區(qū)企業(yè),致力于為工業(yè),電子制造業(yè)和科研領(lǐng)域用戶(hù)提供顯微光學(xué)檢測(cè)和自動(dòng)影像測(cè)量,計(jì)量, 分析及過(guò)程控制等解決方案。

  本公司產(chǎn)品有:德國(guó)LEICA系列顯微鏡、成像和圖像分析軟件,德國(guó)ZEISS復(fù)合式三坐標(biāo),自動(dòng)影像量測(cè)儀,日本NIKON 投影機(jī)、測(cè)量顯微鏡、高度計(jì),美國(guó)OGP自動(dòng)影像量測(cè)系統(tǒng),光學(xué)成像儀器的維護(hù)及改造, 云端MES軟件等。

  本公司產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于:汽車(chē)電子,汽車(chē)零部件,鋼鐵行業(yè),光電顯示制造,電子零件制造,精密部件加工、半導(dǎo)體晶圓測(cè)試、微納電子制造,科研高校等領(lǐng)域。

本公司秉承“誠(chéng)信、服務(wù)、專(zhuān)業(yè)、創(chuàng)新”的經(jīng)營(yíng)理念,擁有高素質(zhì)的專(zhuān)業(yè)人員為您提供優(yōu)質(zhì)的售前、售中、售后服務(wù),并可應(yīng)客戶(hù)要求開(kāi)發(fā)或共同開(kāi)發(fā)其他應(yīng)用光學(xué)產(chǎn)品,為廣大的國(guó)內(nèi)生產(chǎn)和科研用戶(hù)提供與同步的專(zhuān)業(yè)服務(wù),更好地創(chuàng)造產(chǎn)品價(jià)值和顧客價(jià)值。


顯微鏡 /徠卡顯微鏡/尼康顯微鏡/工具顯微鏡/金相顯微鏡/視頻顯微鏡/體視顯微鏡

  徠卡清潔度顯微鏡徠卡DM4 M&徠卡DM6 M正置工業(yè)測(cè)量顯微鏡作為清潔度檢測(cè)顯微鏡不僅可滿(mǎn)足快快速概覽樣品和詳細(xì)檢查樣品的需求可靠的記憶功能可即時(shí)復(fù)制成像參數(shù),輕松搞定重復(fù)性工作。

  一、徠卡清潔度顯微鏡原理
 
  徠卡清潔度顯微鏡是用于觀察紙張、印刷品等表面的清潔度的儀器。在紙張、印刷品生產(chǎn)中,清潔度是一個(gè)非常重要的指標(biāo),它直接影響到紙張、印刷品的質(zhì)量。徠卡清潔度顯微鏡通過(guò)對(duì)待檢樣品表面的光學(xué)特性進(jìn)行分析,來(lái)檢測(cè)樣品表面的雜質(zhì)、污漬等細(xì)小顆粒。
 
  徠卡清潔度顯微鏡的原理是基于照射樣品表面的光束被樣品反射和散射,形成一個(gè)特定的明暗區(qū)間。當(dāng)樣品表面存在雜物、污漬等顆粒的時(shí)候,這些細(xì)小顆粒對(duì)光的反射和散射程度不同,導(dǎo)致樣品表面的明暗變化,即出現(xiàn)小圓點(diǎn)或小黑點(diǎn)。這樣,我們就可以通過(guò)觀察樣品表面的明暗變化情況,來(lái)判斷樣品表面的清潔度。
 
  二、徠卡清潔度顯微鏡的特點(diǎn)
 
  1. 可靠性高:徠卡清潔度顯微鏡結(jié)構(gòu)緊湊,操作簡(jiǎn)單,檢測(cè)結(jié)果準(zhǔn)確可靠。
 
  2. 結(jié)構(gòu)合理:徠卡清潔度顯微鏡主要由放大倍率可調(diào)、聚焦調(diào)節(jié)等部分組成,整體結(jié)構(gòu)合理,易于操作和維護(hù)。
 
  3. 操作方便:徠卡清潔度顯微鏡無(wú)需復(fù)雜的預(yù)處理過(guò)程,可以直接對(duì)樣品進(jìn)行觀察和檢測(cè),操作簡(jiǎn)便。
 
  4. 檢測(cè)效率高:徠卡清潔度顯微鏡可以快速的檢測(cè)出樣品表面的雜質(zhì)、污漬等顆粒,提高生產(chǎn)效率。
 
  5. 顯示效果好:徠卡清潔度顯微鏡采用高清晰度的光學(xué)系統(tǒng),可以清晰的顯示樣品表面的散射光變化情況,提高檢測(cè)的精度。
 
  三、徠卡清潔度顯微鏡的安裝
 
  1. 徠卡清潔度顯微鏡應(yīng)該安裝在干燥、通風(fēng)、無(wú)塵的地方。
 
  2. 應(yīng)該根據(jù)設(shè)備的大小和重量選擇合適的支架或工作臺(tái),確保設(shè)備穩(wěn)固。
 
  3. 在安裝過(guò)程中,需要對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)和調(diào)試,確保設(shè)備的正常使用。
 
  四、徠卡清潔度顯微鏡的維護(hù)
 
  1. 維護(hù)設(shè)備清潔:徠卡清潔度顯微鏡需要保持良好的清潔度,避免雜物、灰塵進(jìn)入光學(xué)系統(tǒng)。
 
  2. 定時(shí)更換光源:光源的光衰變化較快,需要定期更換新的光源以保證檢測(cè)效果。
 
  3. 定時(shí)清潔光學(xué)鏡片:徠卡清潔度顯微鏡的鏡片需要定期清潔,保持良好的光學(xué)性能。
 
  4. 注意使用環(huán)境溫度和濕度:徠卡清潔度顯微鏡不宜長(zhǎng)時(shí)間暴露在高溫、高濕的環(huán)境中,需放置在干燥通風(fēng)的環(huán)境中。
 
  5. 發(fā)現(xiàn)問(wèn)題及時(shí)處理:如果徠卡清潔度顯微鏡出現(xiàn)操作問(wèn)題或故障,應(yīng)該及時(shí)處理,并聯(lián)系售后服務(wù)人員進(jìn)行維修。
 
  徠卡DM4 M&徠卡DM6 M正置工業(yè)測(cè)量顯微鏡
 
  使用“二合一法”解決方案進(jìn)行清潔度分析
 
  在汽車(chē)和運(yùn)輸、微電子、制造和醫(yī)療器械等行業(yè)中,產(chǎn)品及其組件的性能和使用壽命非常容易受到污染的影響。
 
  徠卡清潔度檢測(cè)顯微鏡 DM6 M LIBS 材料分析解決方案 (參考圖 1) 等二合一解決方案將光學(xué)顯微術(shù) (目視分析) 和激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS) (化學(xué)分析) 相結(jié)合。與掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 等其他方法進(jìn)行比較,在高效清潔度分析中占據(jù)著優(yōu)勢(shì)。

 

 
  查找和消除污染源更輕松
 
  對(duì)于技術(shù)清潔度,最終目標(biāo)是查找和消除污染源。二合一解決方案可以用更少的時(shí)間和精力識(shí)別污染源,因?yàn)榍鍧嵍确治隽鞒痰玫搅撕?jiǎn)化。
 
  與使用掃描電鏡檢查法 (SEM) 和能量色散譜 (EDS) 進(jìn)行分析的不同之處在于:
 
  > 無(wú)需樣品制備;
 
  > 無(wú)需將樣品從一個(gè)設(shè)備傳輸?shù)搅硪粋€(gè)設(shè)備;
 
  > 無(wú)需在濾片上重新定位感興趣區(qū)域,也無(wú)需進(jìn)行系統(tǒng)調(diào)節(jié);
 
  > 無(wú)需損失等待真空的時(shí)間 (分析始終在大氣條件下的空氣中進(jìn)行)
 
  “二合一法”解決方案:顆粒成像和構(gòu)成分析
 
  以下圖 2 所示為使用徠卡清潔度檢測(cè)顯微鏡 DM6 M LIBS 清潔度檢測(cè)顯微鏡解決方案對(duì)濾片上的顆粒進(jìn)行可視和化學(xué)分析的示例。
 

 

  圖 2:使用 DM6 M LIBS 二合一解決方案執(zhí)行清潔度分析:
 
  A) 檢測(cè)、統(tǒng)計(jì)和測(cè)量濾片上的顆粒;
 
  B) 如果是金屬顆粒,選擇適當(dāng)?shù)膶?duì)比度方法可以看到顆粒的反射光;
 
  C) 激光追蹤 ( 紅色十字準(zhǔn)線(xiàn)) 濾片上檢測(cè)到的顆粒,以運(yùn)用 LIBS 進(jìn)行化學(xué)分析;
 
  D) 來(lái)自 LIBS 的元素譜清楚地表明該顆粒由鋁 (Al) 組成。
 
  雙重高效的總體清潔度工作流程
 
  對(duì)于整個(gè)清潔度工作流程,往往要使用多個(gè)供應(yīng)商提供的多種儀器來(lái)執(zhí)行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析,在整個(gè)流程中使用來(lái)自“單一源”的一種清潔度解決方案更加方便。徠卡公司和 Pall 公司共同努力為汽車(chē)和運(yùn)輸行業(yè)提供了這樣一種而全面的清潔度解決方案。您可在下面的圖 3 中看到使用 Pall 清洗柜和徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案的整體清潔度工作流程。
 
  整套解決方案的優(yōu)勢(shì)在于更容易達(dá)到清潔度分析的最終目標(biāo)::
 
  > 測(cè)定顆粒導(dǎo)致?lián)p壞的潛在可能性;
 
  > 找到并消除對(duì)產(chǎn)品性能和使用壽命構(gòu)成嚴(yán)重威脅的污染源。

 

 

  圖 3:符合 VDA19 且有效的汽車(chē)行業(yè)整體清潔度工作流程:
 
  從濾片顆粒提取和保留 (Pall 清洗柜) 到可視和化學(xué)分析(徠卡 DM6 M LIBS 二合一解決方案)。
 
  目標(biāo)旨在更快地找到危險(xiǎn)顆粒污染源并消除它們。
 
  清潔度分析流程 – 步驟:
 
  零件/組件制備
 
  零件類(lèi)型、需要的方法
 
  制備方法取決于零件或組件類(lèi)型以及要分析的樣品大小。根據(jù)零件特性和樣品大小最終確定解決方案。
 
  提取/過(guò)濾
 
  攪拌、零件清洗、超聲波處理、測(cè)試臺(tái)
 
  通過(guò)噴涂、清洗或超聲波處理等方式,從零部件中提取污染物顆粒。隨后,讓清潔溶液流經(jīng)過(guò)濾器 (過(guò)濾器類(lèi)型取決于清潔的部件),顆粒則會(huì)留在薄膜上用于分析。PALL 提供不同規(guī)格的清洗柜和過(guò)濾器可用于過(guò)濾處理步驟。經(jīng)過(guò)干燥后,對(duì)過(guò)濾器進(jìn)行評(píng)估。
 
  顆粒分析
 
  檢測(cè)、定量、分類(lèi)
 
  根據(jù)顆粒大小和類(lèi)型,對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)、定量和分類(lèi),判斷其可能引起的潛在破壞性。使用復(fù)合或數(shù)字顯微鏡和清潔度軟件模塊,同時(shí)借助徠卡清潔度檢測(cè)顯微鏡分析解決方案完成這些任務(wù)。
 
  檢查結(jié)果
 
  ISO 16232 和 VDA19
 
  仔細(xì)復(fù)查分析結(jié)果,確定是否存在任何具有潛在破壞性的顆粒。金屬顆粒的潛在破壞性更高,而徠卡成像解決方案能夠自動(dòng)識(shí)別金屬顆粒。這些具有潛在破壞性的顆粒會(huì)影響組件的使用壽命,甚至還會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)故障。
 
  響應(yīng)
 
  采取對(duì)應(yīng)措施
 
  借助全面清潔度分析得到的結(jié)果,使工作流程逐步得到優(yōu)化。然后識(shí)別具有潛在破壞性的顆粒,確定并消除污染源。在清潔度檢測(cè)顯微鏡分析下,目標(biāo)在于不斷改進(jìn)清潔度分析過(guò)程,進(jìn)而消除和減少污染。


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