neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡
- 公司名稱 八帆儀器設備（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2021/6/2 10:57:13
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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 綜合 |
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neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了散射式核心設計技術，提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。由于其高度的可靠性和可重復性。neaSNOM業(yè)已成為納米光學領域熱點研究方向的科研設備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
近，neaspec公司成功開發(fā)了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統(tǒng)，將上述sSNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強拉曼（TERS）、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進行聯用，可以為廣大科學工作者在等離子激元、二維材料聲子極化、半導體載流子子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發(fā)及衰減過程等的研究上提供相關支持。
neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡技術特點和優(yōu)勢：
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neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產品
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散射式近場光學測量技術
—*的*10 nm空間分辨率 -
高階解調背景壓縮技術
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持*的信噪比 -
干涉式近場信號探測單元
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贗外差干涉式探測技術
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像 -
反射式光學系統(tǒng)
—用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲 -
高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng)，
—同時優(yōu)化了納米尺度下光學測量 -
雙光束設計
—*的光學接入角：水平方向180°，垂直方向60° -
操作和樣品準備簡單
—僅需要常規(guī)的AFM樣品準備過程
neaSNOM重要應用領域：
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表面等離激元
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石墨烯
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六方氮化硼
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光電流/太赫茲
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化學過程
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高分子/生物材料
采購中心
化工儀器網