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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>半導(dǎo)體行業(yè)專用儀器>工藝測量和檢測設(shè)備>四探針測試儀>280SI 美國四探針電阻率/方塊電阻測試儀

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280SI 美國四探針電阻率/方塊電阻測試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 280SI
  • 產(chǎn)地 美國
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2023/1/8 15:44:15
  • 訪問次數(shù) 2311

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺,以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測量儀
Wafer 粗糙度檢測
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測試
掃描探針顯微鏡
臺式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天
自動化度 全自動

美國四探針電阻率/方塊電阻測試儀

美國4D公司的四探針/方塊電阻/電阻率測試設(shè)備:280SI (普及型號)

· 測量尺寸:晶圓尺寸:2-8寸(333系列可測量大至12寸晶圓,1100系列可測量大至2160mmX2400mm平板系列)

方形片:大至156mm X 156mm;

· 測量范圍: 0.001歐姆/平方 至 800000歐姆/平方(標(biāo)準(zhǔn)型);

可往下擴(kuò)展至:0.0001歐姆/平方,往上擴(kuò)展至8e9或8e11歐姆/平方。相對應(yīng)的電阻率,薄膜厚度根據(jù)不同材料不同應(yīng)用而不同,但都是以方塊電阻作為基礎(chǔ)設(shè)備自動計(jì)算得出,注意這是選項(xiàng)價(jià)格要高不少,建議客戶按實(shí)際需求選擇購買。

· 測量方式: 電腦程序自動測量,或不連電腦單測量主機(jī)也可實(shí)現(xiàn)測量和數(shù)據(jù)顯示,此時(shí)非常適合測試不規(guī)整樣片單點(diǎn)測量,適合實(shí)際研究需要。

· 測量的數(shù)據(jù): 方塊電阻/電阻率/薄膜厚度,根據(jù)具體應(yīng)用可以設(shè)置不同測量程序。

· 測量的點(diǎn)數(shù): 程序編排任意測量點(diǎn)位置及測量點(diǎn)數(shù)量,對應(yīng)不同客戶不同測量要求任意編程測量點(diǎn)位置與數(shù)量。

· 測量的準(zhǔn)確度:<0.1% (標(biāo)準(zhǔn)模阻);

· 測量重復(fù)性:<0.2% (特定片子);

· 測量速度:>45點(diǎn)/分鐘;

· 測量數(shù)據(jù)處理:根據(jù)需要顯示2D,3D數(shù)值圖,或按要求統(tǒng)計(jì)并輸出Excel格式文件;

· 邊緣修正:具有邊緣修正功能,即片子邊緣3mm以內(nèi)區(qū)域都能測量;

· 探針材料:鎢鋼與硅片的接觸電阻小,且耐磨。另外每跟針的軸套采用非常耐磨藍(lán)寶石材料,以確保長時(shí)間使用后間距的一致性;

· 探針壓力可調(diào)范圍:90-200克之間可調(diào);

· 可供選擇的探頭類型:根據(jù)測試不同工藝要求有A, B,K, M, N等相關(guān)型號探頭選擇,另外還可提供專門為客戶定制的應(yīng)用特殊要求的探針,比如測試薄至30A的薄膜時(shí)需要使用MR型探頭,這是四探針設(shè)備供應(yīng)商少有能做到的。

· 設(shè)備應(yīng)用:

    IC FAB/FP dispaly/LED:擴(kuò)散,離子注入等摻雜工藝監(jiān)控調(diào)試,薄膜電阻率或厚度測量等工序,如Intel,IBM,Motorola,TSMC,CSMC,Applied Materials,Sematech,Linear Technology,Tokyo Electronics,Materials Research,RF Monolithics,Linear Technology,Perkin-Elmer Optoelectronics,Candescent Technology,Hewlett-Packard,SHE America/Japan/Europe,Flip Chip,Delco Electronics,Lite-On Power,Goldstar,Korea Electronics,Posco Huls,SGS-Thomson,CarborundumCodeon,TRW Space&Electronics,Dynamic Research,EKC Technology,Hughes Aircraft,International Rectifier,LG Display,Semitech,Winbond,RF Monolithic,Osram...

    材料類研究:杜邦(中國),電力科學(xué)院,中科院,山東科學(xué)院,清華大學(xué),北京大學(xué),復(fù)旦大學(xué),華師大,電子科大,國家標(biāo)準(zhǔn)化所,質(zhì)檢所,光伏科學(xué)與技術(shù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,Applied Materials, Materials Research...
    新能源:尚德,晶澳,英利,阿特斯,天合,LDK,海潤,騰暉,鑫輝,東磁,向日葵,奧特斯維,尖山,晶科,力諾,韓華,神舟,光為,艾力克,吉陽,東營,中盛,F(xiàn)irst solar,Solar world...

美國四探針電阻率/方塊電阻測試儀

· 客戶群廣:國內(nèi)已經(jīng)賣出近300臺之多,*累計(jì)各種型號四探針設(shè)備近千臺。

· 使用成本

4D公司所提供的探針質(zhì)保次數(shù)是25萬次,而實(shí)際從客戶反饋的信息是壽命達(dá)到100萬次以上,甚至150萬次以上。同時(shí)4D還為客戶提供探頭的探針更換服務(wù),大大降低客戶的使用成本。

· *高

國內(nèi)行業(yè)內(nèi)有幾百臺的占有率,公司品牌4D已經(jīng)成為四探針的代名詞;
根據(jù)應(yīng)用不同工藝要求對應(yīng)的探針類型詳細(xì)說明:

1.png


測量數(shù)據(jù)電腦圖(2D/3D)

2.png


各類型四探針設(shè)備說明:

3.png

根據(jù)客戶不同使用要求有更多選擇
* 使用液體金屬汞探針替代傳統(tǒng)硬探針的四探針設(shè)備,如:M4PP 3093;
* 針對III IV族化合物材料,應(yīng)用“dynamic AC waveform”克服測量的接觸電阻問題,該型號為:680I;
* 根據(jù)不同應(yīng)用要求,可增加的功能有:溫度控制/補(bǔ)償,邊緣修正,樣品臺定制,自動化要求定制,探頭自動切換,通訊接口擴(kuò)展,測量范圍擴(kuò)展等。



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