(二手)Semilab Sopra LE-200PV 橢偏儀
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- 公司名稱 東莞市湘龍自動化設(shè)備有限公司
- 品牌
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間 2018/12/11 17:39:50
- 訪問次數(shù) 567
產(chǎn)品標(biāo)簽
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(全新二手) Semilab Sopra LE-200PV ELLIPSOMETRE 橢偏儀售賣(二手).
Semilab Sopra LE-200 PV
Elipsomètre pour cellules photovoltaïques (2010)
描述:
單一波長測定
單一波長測定法的主要應(yīng)用可用于表征反反射涂層。2 . L-200 PV激光測深儀(EL-200)用于測量膜的厚度,并確定HENE激光波長的折射率(632.8 nm)。還可測量在單晶硅基片和蜂膠或被質(zhì)地的多晶硅基材上沉積的抗反射層。
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