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共話分析測試應(yīng)用技術(shù) 第五屆納博會分析測試應(yīng)用論壇圓滿落幕
2023年03月03日 16:01:49 來源：化工儀器網(wǎng) 作者：小王 點擊量：5367

3月2日，由勝科納米((蘇州)股份有限公司 、中國半導體行業(yè)協(xié)會MEMS分會、蘇州納米科技發(fā)展有限公司主辦的第五屆納博會分析測試應(yīng)用論壇在主會場B1展區(qū)會議室1順利召開。

　　【化工儀器網(wǎng) 展會報道】2023年3月1日-3月3日，第十三屆中國國際納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)博覽會(以下簡稱納博會)在蘇州國際博覽中心順利舉行。作為中國大規(guī)模極具影響力的納米技術(shù)應(yīng)用產(chǎn)業(yè)交流盛會，本次納博會展出面積達20000平方米，內(nèi)容涵蓋納米新材料、微納制造、第三代半導體、分析檢測、納米生物醫(yī)藥、納米技術(shù)應(yīng)用等多個領(lǐng)域，縱向覆蓋納米技術(shù)產(chǎn)業(yè)鏈條，為企業(yè)提供技術(shù)展示、產(chǎn)品推廣的平臺，為客戶提供一個與企業(yè)面對面洽談交流的機會。展覽期間，會場還設(shè)有多場主題大會，來自各個企業(yè)、機構(gòu)及高校的專家學者共聚納博會分享、交流經(jīng)驗。
 
　　3月2日，由勝科納米((蘇州)股份有限公司 、中國半導體行業(yè)協(xié)會MEMS分會、蘇州納米科技發(fā)展有限公司主辦的第五屆納博會分析測試應(yīng)用論壇在主會場B1展區(qū)會議室1順利召開。會議以國際領(lǐng)先的分析儀器為基礎(chǔ)，依托科研人員獨創(chuàng)性的分析方法與對儀器、產(chǎn)品、材料及工藝的深刻理解，為工業(yè)界解決實際生產(chǎn)過程中迫在眉睫或懸而未決的問題，進行技術(shù)和案例的分享與研討。
 
　　此次會議邀請了湖南越摩先進半導體有限公司總經(jīng)理謝建友、上海光源中心副主任李愛國、蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁、南開大學講席教授羅鋒、國家納米科學中心研究員葛廣路、賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀、牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學家馬嵐、日立科學儀器(北京)有限公司經(jīng)理張希文、中國科學院半導體研究所教授級高級工程師鈕應(yīng)喜等業(yè)界專家參與，為與會觀眾帶去了一場場別開生面的專題報告。
 
　　會議伊始，勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長李曉旻首先以會議主辦方的身份發(fā)表了致歡迎詞，隨后帶來本次會議的第一場報告《從分析檢測賽道看半導體行業(yè)周期》。
 
報告人：勝科納米(蘇州)股份有限公司董事長李曉旻
 
　　湖南越摩先進半導體有限公司總經(jīng)理謝建友盡管無緣現(xiàn)場，依舊以線上講座的方式帶來報告《SiP先進封裝行業(yè)的技術(shù)現(xiàn)狀及發(fā)展趨勢》。
 
報告人：湖南越摩先進半導體有限公司總經(jīng)理謝建友
 
　　會議的第三場報告由上海光源中心副主任李愛國帶來，標題為《集成電路器件同步輻射無損表征方法》。
 
報告人：上海光源中心副主任李愛國
 
　　上午的最后一場報告為蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁帶來的《化合物半導體的先進失效分析技術(shù)》。
 
報告人：蔡司顯微鏡業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理黃承梁
 
　　報告結(jié)束后是圓桌會議的環(huán)節(jié)，來自南開大學的教授羅峰、勝科納米(蘇州)股份有限公司的董事長李曉旻、中國科學院半導體研究所的高級工程師鈕應(yīng)喜、賽默飛世爾科技(中國)有限公司的高級商務(wù)總監(jiān)Sherry Zhu圍繞半導體行業(yè)中分析測試的發(fā)展前景與機遇展開了深入的討論。也讓觀眾更加期待下午的報告。
 
圓桌會議環(huán)節(jié)
 
　　下午，羅峰教授首先進行報告，報告題為《超精密制造與集成電路工藝與裝備》。
 
報告人：南開大學講席教授羅峰
 
　　隨后，來自國家納米科學中心研究員葛廣路帶來了《納米材料測試標準》。
 
報告人：納米科學中心研究員葛廣路
 
　　下午的第三場報告由賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀帶來，題為《提高失效分析成功率-賽默飛整體解決方案助你一臂之力》。
 
報告人：賽默飛世爾科技(中國)有限公司EFA商務(wù)拓展經(jīng)理唐涌耀
 
　　第四場報告由牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學家馬嵐帶來，題為《牛津儀器EDS和EBSD在半導體表征中的應(yīng)用進展》。
 
報告人：牛津儀器科技(上海)有限公司應(yīng)用科學家馬嵐
 
　　簡單的茶歇之后，來自日立科學儀器(北京)有限公司的經(jīng)理張希文帶來了《日立電鏡產(chǎn)品助力最先進半導體產(chǎn)業(yè)》。
 
報告人：日立科學儀器(北京)有限公司經(jīng)理張希文
 
　　鈕應(yīng)喜高級工程師則作為壓軸，帶來了《碳化硅缺陷表征以及其對器件性能的影響》。
 
報告人：中國科學院半導體研究所教授級高級工程師鈕應(yīng)喜
 
　　負責收尾的是勝科納米(新加坡)副總裁華佑南，他以線上報告的形式帶來了《X-射線能譜(EDS)、X-射線光電子能譜(XPS)和俄歇電子能譜(AES)分析技術(shù)研究和在半導體芯片設(shè)計、晶圓制造和先進封裝中的應(yīng)用》，為活動畫上了圓滿的句號。
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