解析SEISHIN株式會(huì)社顯微細(xì)顆粒硬度計(jì)MHT-1

解析SEISHIN株式會(huì)社顯微細(xì)顆粒硬度計(jì)MHT-1

產(chǎn)品產(chǎn)品信息

顯微硬度計(jì)MHT-1(顆粒壓縮試驗(yàn)裝置)

微型硬度計(jì)MHT-1通過(guò)更換測(cè)量臺(tái)可以測(cè)量40至400μm。*這是一臺(tái)用于細(xì)顆粒的自動(dòng)壓縮試驗(yàn)裝置。該裝置通過(guò)壓頭施加載荷來(lái)壓碎顆粒時(shí)測(cè)量峰值載荷和粒徑，并計(jì)算壓碎強(qiáng)度。使用圖像數(shù)據(jù)和載荷-位移曲線(xiàn)記錄從壓縮到失效的過(guò)程。通過(guò)從測(cè)量結(jié)果中選擇任意粒子，可以在載荷-位移曲線(xiàn)和連續(xù)圖像中確認(rèn)斷裂過(guò)程。

*根據(jù)規(guī)格，目標(biāo)粒度將為 40-120μm 或 50-400μm。

　為了測(cè)量 200 至 1500 μm 之間的顆粒，我們有 Better 硬度計(jì) BHT-1000（全自動(dòng)粉末和顆粒壓縮試驗(yàn)裝置） 。

測(cè)量流程

利用我們的技術(shù)，我們分散并采樣每一個(gè)粒子。要測(cè)量，只需插入樣品，壓縮測(cè)試和清潔將自動(dòng)重復(fù)。

圖像分析

使用圖像分析，重疊的顆粒和團(tuán)聚體被排除在測(cè)量之外，并且在進(jìn)行壓縮試驗(yàn)之前，顆粒被自動(dòng)識(shí)別為單個(gè)顆粒。

規(guī)格

規(guī)格MHT-1MHT-1W（高分辨率）

測(cè)量方法恒荷載法 

測(cè)量項(xiàng)目高度、粒度、峰值荷載、位移、抗壓強(qiáng)度、斷裂強(qiáng)度、變形強(qiáng)度 

目標(biāo)粒徑50 至 400 μm

（手動(dòng)測(cè)量為 1 mm）

*需要更換平臺(tái) 40至120μm 

下降速度從 1.0 至 10μm/秒選擇 從 0.01 至 10μm/秒選擇 

測(cè)量的顆粒數(shù)量每個(gè)樣本最多 500 粒膠囊 

稱(chēng)重傳感器

試驗(yàn)力1N（最小顯示0.01mN）

可更改為5N、10N或20N

（可選） 1N（最小顯示0.01mN）

可改為5N

（選配） 

相機(jī)CMOS USB 攝像頭：可選

“480 x 270”130,000 像素、“640 x 360”230,000 像素、“960 x 540”520,000 像素或

“1920 x 1080”207 萬(wàn)像素 

車(chē)身尺寸W450×D460×H400 mm ※含突出部分 

重量約25公斤 約26公斤 

公用事業(yè)交流100V 50/60Hz 2A 

其他的壓頭：φ0.45mm直徑直頭（表面處理）

LED燈、防塵罩、校準(zhǔn)砝碼 

您可以滾動(dòng)

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